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参数资料
| 型号： | AT91SAM7S256C-MU |
| 厂商： | Atmel |
| 文件页数： | 114/165页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC ARM7 MCU 32BIT 256K 64QFN |
| 标准包装： | 260 |
| 系列： | SAM7S |
| 核心处理器： | ARM7 |
| 芯体尺寸： | 16/32-位 |
| 速度： | 55MHz |
| 连通性： | I²C，SPI，SSC，UART/USART，USB |
| 外围设备： | 欠压检测/复位，DMA，POR，PWM，WDT |
| 输入/输出数： | 32 |
| 程序存储器容量： | 256KB（256K x 8） |
| 程序存储器类型： | 闪存 |
| RAM 容量： | 64K x 8 |
| 电压 - 电源 (Vcc/Vdd)： | 1.65 V ~ 1.95 V |
| 数据转换器： | A/D 8x10b |
| 振荡器型： | 内部 |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 封装/外壳： | 64-VFQFN 裸露焊盘 |
| 包装： | 托盘 |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页当前第114页第115页第116页第117页第118页第119页第120页第121页第122页第123页第124页第125页第126页第127页第128页第129页第130页第131页第132页第133页第134页第135页第136页第137页第138页第139页第140页第141页第142页第143页第144页第145页第146页第147页第148页第149页第150页第151页第152页第153页第154页第155页第156页第157页第158页第159页第160页第161页第162页第163页第164页第165页
52
SAM7S Series [DATASHEET]
6175M–ATARM–26-Oct-12
For further details on the Debug Unit, see the Debug Unit section.
12.5.4
IEEE 1149.1 JTAG Boundary Scan
IEEE 1149.1 JTAG Boundary Scan allows pin-level access independent of the device packaging technology.
IEEE 1149.1 JTAG Boundary Scan is enabled when JTAGSEL is high. The SAMPLE, EXTEST and BYPASS func-
tions are implemented. In ICE debug mode, the ARM processor responds with a non-JTAG chip ID that identifies
the processor to the ICE system. This is not IEEE 1149.1 JTAG-compliant.
It is not possible to switch directly between JTAG and ICE operations. A chip reset must be performed after JTAG-
SEL is changed.
A Boundary-scan Descriptor Language (BSDL) file is provided to set up testing.
12.5.4.1
JTAG Boundary-scan Register
The Boundary-scan Register (BSR) contains 96 bits that correspond to active pins and associated control signals.
Each SAM7Sxx input/output pin corresponds to a 3-bit register in the BSR. The OUTPUT bit contains data that
can be forced on the pad. The INPUT bit facilitates the observability of data applied to the pad. The CONTROL bit
selects the direction of the pad.
AT91SAM7S128 Rev B
0x270A0741
AT91SAM7S128 Rev C
0x270A0742
AT91SAM7S128 Rev D
0x270A0743
AT91SAM7S256 Rev A
0x270D0940
AT91SAM7S256 Rev B
0x270B0941
AT91SAM7S256 Rev C
0x270B0942
AT91SAM7S256 Rev D
0x270B0943
AT91SAM7S512 Rev A
0x270B0A40
AT91SAM7S512 Rev B
0x270B0A4F
Table 12-2.
SAM7S Series Debug Unit Chip ID (Continued)
Table 12-3.
SAM7Sxx JTAG Boundary Scan Register
Bit Number
Pin Name
Pin Type
Associated BSR
Cells
96
PA17/PGMD5/AD0
IN/OUT
INPUT
95
OUTPUT
94
CONTROL
93
PA18/PGMD6/AD1
IN/OUT
INPUT
92
OUTPUT
91
CONTROL
90
PA21/PGMD9*
IN/OUT*
INPUT
89
OUTPUT(1)
88
CONTROL(1)
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