参数资料
| 型号： | ATA6823C-PHQW |
| 厂商： | Atmel |
| 文件页数： | 15/27页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC MOTOR DVR H-BRIDGE 32QFN |
| 标准包装： | 4,000 |
| 应用： | H 桥，PWM 电机控制器 |
| 评估套件： | 可供 |
| 输出数： | 1 |
| 电流 - 输出： | 100mA |
| 电压 - 负载： | 7 V ~ 21.2 V |
| 电源电压： | 7 V ~ 21.2 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 125°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 32-VQFN 裸露焊盘 |
| 供应商设备封装： | 32-QFN（7x7） |
| 包装： | 带卷 (TR) |
| 其它名称： | ATA6823C-PHQW-ND |
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7.
Noise and Surge Immunity, ESD and Latch-up
Parameters
Conducted interferences
Conducted disturbances
Standard and Test Conditions
ISO 7637-1
CISP25
Value
Level 4 (1)
Level 5
ESD according to IBEE LIN EMC
- Pins LIN, PBAT, VBAT
- Pin EN2 (33 k Ω serial resistor)
Test specification 1.0 following IEC 61000-4-2
ESD- STM5.1-2001
±6kV
±5kV
ESD HBM with 1.5k Ω /100pF
ESD HBM with 1.5k Ω /100pF
Pins EN2, LIN, PBAT, VBAT against GND
ESD CDM (field induced method)
JESD22-A114E 2007
CEI/IEC 60749-26: 2006
AEC-Q100-002-Ref_D
ESD- STM5.1-2001
JESD22-A114E 2007
CEI/IEC 60749-26: 2006
AEC-Q100-002-Ref_D
ESD STM5.3.1 - 1999
±3kV
±8kV
±1kV
Note: 1. Test pulse 5: V bat max = 40V
Static latch-up tested according to AEC-Q100-004 and JESD78.
●
●
3 to 6 samples, 0 failures
Electrical post stress testing at room temperature
In test, the voltage at the pins VBAT, LIN, CP, VBATSW, Hx, and Sx must not exceed 45V when not able to drive the specified
current.
Atmel ATA6823C [DATASHEET]
9209E–AUTO–03/12
15
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