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参数资料
| 型号： | CAT93C66XI |
| 厂商： | ON Semiconductor |
| 文件页数： | 4/16页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC EEPROM 4KBIT 2MHZ 8SOIC |
| 标准包装： | 94 |
| 格式 - 存储器： | EEPROMs - 串行 |
| 存储器类型： | EEPROM |
| 存储容量： | 4K（512 x 8 或 256 x 16） |
| 速度： | 2MHz |
| 接口： | Microwire 3 线串行 |
| 电源电压： | 1.8 V ~ 5.5 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 封装/外壳： | 8-SOIC（0.209"，5.30mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 8-SOIC |
| 包装： | 管件 |
CAT93C66, CAT93W66
Table 9. A.C. CHARACTERISTICS ? MATURE PRODUCT
(V CC = +1.8 V to +5.5 V, T A = ? 40 ° C to +125 ° C, unless otherwise specified.) (Note 8)
Limits
Symbol
Parameter
Min
Max
Units
t CSS
t CSH
t DIS
t DIH
t PD1
t PD0
t HZ (Note 9)
t EW
t CSMIN
t SKHI
t SKLOW
t SV
CS Setup Time
CS Hold Time
DI Setup Time
DI Hold Time
Output Delay to 1
Output Delay to 0
Output Delay to High ? Z
Program/Erase Pulse Width
Minimum CS Low Time
Minimum SK High Time
Minimum SK Low Time
Output Delay to Status Valid
50
0
100
100
0.25
0.25
0.25
0.25
0.25
100
5
0.25
ns
ns
ns
ns
m s
m s
ns
ms
m s
m s
m s
m s
SK MAX
Maximum Clock Frequency
DC
2000
kHz
8. Test conditions according to “A.C. Test Conditions” table.
9. These parameters are tested initially and after a design or process change that affects the parameter according to appropriate
AEC ? Q100 and JEDEC test methods.
Table 10. A.C. CHARACTERISTICS ? NEW PRODUCT (Rev H)
(V CC = +1.8 V to +5.5 V, TA = ? 40 ° C to +125 ° C, unless otherwise specified.)
V CC = 1.8 V ? 5.5 V
V CC = 4.5 V ? 5.5 V
Symbol
Parameter
Min
Max
Min
Max
Units
t CSS
t CSH
t DIS
t DIH
t PD1
t PD0
t HZ (Note 10)
t EW
t CSMIN
t SKHI
t SKLOW
t SV
CS Setup Time
CS Hold Time
DI Setup Time
DI Hold Time
Output Delay to 1
Output Delay to 0
Output Delay to High ? Z
Program/Erase Pulse Width
Minimum CS Low Time
Minimum SK High Time
Minimum SK Low Time
Output Delay to Status Valid
50
0
100
100
0.25
0.25
0.25
0.25
0.25
100
5
0.25
50
0
50
50
0.1
0.1
0.1
0.1
0.1
100
5
0.1
ns
ns
ns
ns
m s
m s
ns
ms
m s
m s
m s
m s
SK MAX
Maximum Clock Frequency
DC
2000
DC
4000
kHz
10. This parameter is tested initially and after a design or process change that affects the parameter.
http://onsemi.com
4
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