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参数资料
| 型号： | DS26324GNA2+ |
| 厂商： | Maxim Integrated Products |
| 文件页数： | 112/120页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC INTERFACE LINE 16CH 256-CSBGA |
| 产品培训模块： | Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program |
| 标准包装： | 40 |
| 类型： | 线路接口装置（LIU） |
| 驱动器/接收器数： | 16/16 |
| 规程： | LIN |
| 电源电压： | 3.135 V ~ 3.465 V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 256-LBGA，CSBGA |
| 供应商设备封装： | 256-CSBGA（17x17） |
| 包装： | 托盘 |
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DS26324 3.3V, 16-Channel, E1/T1/J1 Short-Haul Line Interface Unit
91 of 120
7 JTAG BOUNDARY SCAN ARCHITECTURE AND TEST ACCESS PORT
The DS26324 IEEE 1149.1 design supports the standard instruction codes SAMPLE/PRELOAD, BYPASS, and
EXTEST. Optional public instructions included are HIGHZ, CLAMP, and IDCODE. The DS26324 contains the
following as required by IEEE 1149.1 Standard Test-Access Port and Boundary-Scan Architecture:
Test Access Port (TAP)
TAP Controller
Instruction Register
Bypass Register
Boundary Scan Register
Device Identification Register
Details on Boundary Scan Architecture and the Test Access Port can be found in IEEE 1149.1-1990, IEEE
1149.1a-1993, and IEEE 1149.1b-1994. The Test Access Port has the necessary interface pins: TRSTB, TCLK,
TMS,
TDI,
and
TDO.
See
the
pin
descriptions
for
details.
For
the
latest
BSDL
files
go to www.maxim-ic.com/tools/bsdl/ and search for DS26324.
Figure 7-1. JTAG Functional Block Diagram
+V
BOUNDARY SCAN
REGISTER
INDENTIFICATION
REGISTER
BYPASS
REGISTER
INSTRUCTION
REGISTER
TDI
TMS
TCLK
TRSTB
TDO
+V
TEST ACCESS PORT
CONTROLLER
MUX
10k
10k
10k
SELECT
OUTPUT ENABLE
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PDF描述 |
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