参数资料
型号: EMBEDDEDPROCESSOR
英文描述: Single Event Hardened High-Speed, Dual Output PWM; Temperature Range: QML Class Q; Package: 16-SBDIP
中文描述: 嵌入式处理器-的AMD - K6 - 2E号嵌入式处理器数据手册
文件页数: 195/368页
文件大小: 5669K
代理商: EMBEDDEDPROCESSOR
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252
Test and Debug
Chapter 13
AMD-K6-2E+ Embedded Processor Data Sheet
23542A/0—September 2000
Preliminary Information
The contents of the EAX general-purpose register after the
completion of reset indicate if the BIST was successful.
s
If EAX contains 0000_0000h, then BIST was successful.
s
If EAX is non-zero, the BIST failed.
Following the completion of the BIST, the processor jumps to
address FFFF_FFF0h to start instruction execution, regardless
of the outcome of the BIST.
The BIST takes approximately 5,000,000 processor clocks to
complete.
13.2
Three-State Test Mode
The Three-State Test mode causes the processor to float its
output and bidirectional pins, which is useful for board-level
manu fa c turing t e sting . I n t h is m o de, t he proc esso r is
electrically isolated from other components on a system board,
allowing automated test equipment (ATE) to test components
that drive the same signals as those the processor floats.
If the FLUSH# signal is sampled Low during the falling
transition of RESET, the processor enters the Three-State Test
specific sampling requirements.) The signals floated in the
Three-State Test mode are as follows:
The VCC2DET, VCC2H/L#, and TDO signals are the only
outputs not floated in the Three-State Test mode.
s
VCC2DET and VCC2H/L# must remain Low to ensure the
system continues to supply the specified processor core
voltage to the VCC2 pins.
s
A[31:3]
s
D/C#
s
M/IO#
s
ADS#
s
D[63:0]
s
PCD
s
ADSC#
s
DP[7:0]
s
PCHK#
s
AP
s
FERR#
s
PWT
s
APCHK#
s
HIT#
s
SCYC
s
BE[7:0]#
s
HITM#
s
SMIACT#
s
BREQ
s
HLDA
s
VID[4:0]
s
CACHE#
s
LOCK#
s
W/R#
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PDF描述
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