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参数资料
| 型号： | EVAL-AD5111SDZ |
| 厂商： | Analog Devices Inc |
| 文件页数： | 24/24页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | BOARD EVAL FOR AD5111 |
| 标准包装： | 1 |
| 主要目的： | 数字电位器 |
| 嵌入式： | 否 |
| 已用 IC / 零件： | AD5111 |
| 主要属性： | 1 通道，128 位置 |
| 次要属性： | 串行接口 |
| 已供物品： | 板，CD |
Data Sheet
AD5111/AD5113/AD5115
Rev. | Page 9 of 24
INTERFACE TIMING SPECIFICATIONS
VDD = 2.3 V to 5.5 V; all specifications TMIN to TMAX, unless otherwise noted.
Table 5.
Parameter
Test Conditions/Comments
Min
Typ
Max
Unit
Description
fCLK
VDD ≥ 2.7 V
50
MHz
Clock frequency
VDD < 2.7 V
25
MHz
t1
25
ns
CS setup time
t2
VDD ≥ 2.7 V
10
ns
CLK low time
VDD < 2.7 V
20
ns
t3
VDD ≥ 2.7 V
10
ns
CLK high time
VDD < 2.7 V
20
ns
t4
15
ns
U/D setup time
t5
6
ns
U/D hold time
t6
VDD ≥ 2.7 V
20
ns
CS rise to CLK hold time
VDD < 2.7 V
40
ns
t7
15
ns
CS rising edge to next CLK ignored
t8
VDD ≥ 2.7 V
12
ns
U/D minimum pulse time
VDD < 2.7 V
24
ns
t9
12
ns
U/D rise to CLK falling edge
t10
1
s
Minimum CS time
tEEPROM_PROGRAM1
15
50
ms
Memory program time
tPOWER_UP2
50
s
Power-on EEPROM restore time
1
EEPROM program time depends on the temperature and EEPROM write cycles. Higher timing is expected at a lower temperature and higher write cycles.
2
Maximum time after VDD is equal to 2.3 V.
TIMING DIAGRAMS
t1
RWB
CLK
CS
U/D
t2
t4
t5
t6
t3
t10
t7
09654-
002
Figure 2. Increment/Decrement Mode Timing
DATA
EEPROM
NEW DATA
tEEPROM_PROGRAM
t1
CLK
CS
U/D
t8
t6
09654-
003
Figure 3. Storage Mode Timing
CS
CLK
U/D
t1
t9
t6
09654-
004
Figure 4. Shutdown Mode Timing
A
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PDF描述 |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
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