参数资料
型号: IDT7035L20PFI
厂商: IDT, Integrated Device Technology Inc
文件页数: 6/19页
文件大小: 0K
描述: IC SRAM 144KBIT 20NS 100TQFP
标准包装: 3
格式 - 存储器: RAM
存储器类型: SRAM - 双端口,异步
存储容量: 144K(8K x 18)
速度: 20ns
接口: 并联
电源电压: 4.5 V ~ 5.5 V
工作温度: -40°C ~ 85°C
封装/外壳: 100-LQFP
供应商设备封装: 100-TQFP(14x14)
包装: 托盘
其它名称: 7035L20PFI
IDT7035S/L
High-Speed 8K x 18 Dual-Port Static RAM
Industrial and Commercial Temperature Ranges
Data retention Characteristics Over All Temperature Ranges
(L Version Only) (V LC = 0.2V, V HC = V CC - 0.2V) (4)
Symbol
V DR
Parameter
V CC for Data Retention
V CC = 2V
Test Condition
Min.
2.0
Typ. (1)
___
Max.
___
Unit
V
I CCDR
Data Retention Current
CE > V HC
IND.
___
100
4000
μA
V IN > V HC or < V LC
COM'L.
___
100
1500
t R
t RC
t CDR (3)
(3)
Chip Deselect to Data Retention Time
Operation Recovery Time
SEM > V HC
0
(2)
___
___
___
___
ns
ns
NOTES:
1. T A = +25°C, V CC = 2V, not production tested.
2. t RC = Read Cycle Time
3. This parameter is guaranteed by characterization, but is not production tested.
4. At Vcc < 2.0V input leakages are undefined.
Data Retention Waveform
DATA RETENTION MODE
4088 tbl 10
V CC
CE
4.5V
t CDR
V IH
V DR ≥ 2V
V DR
4.5V
t R
V IH
4088 drw 03
AC Test Conditions
Input Pulse Levels
GND to 3.0V
5V
5V
Input Rise/Fall Times
Input Timing Reference Levels
5ns Max.
1.5V
DATA OUT
BUSY
893 ?
DATA OUT
893 ?
Output Reference Levels
1.5V
INT
347 ?
30pF
347 ?
5pF*
Output Load
Figures 1 and 2
4088 tbl 11
Figure 1. AC Output Test Load
6.42
4088 drw 04
Figure 2. Output Test Load
( for t LZ , t HZ , t WZ , t OW )
* including scope and jig.
.
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PDF描述
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