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参数资料
| 型号： | IRHF7430SE |
| 厂商： | International Rectifier |
| 英文描述： | N-Channel Single Event Effect (SEE) Rad Hard HEXFET Transistor(N 沟道 单事件效应 Rad Hard HEXFET技术晶体管) |
| 中文描述： | N通道单粒子效应（见）拉德硬的HEXFET晶体管（不适用沟道单事件效应拉德硬盘的HEXFET技术晶体管） |
| 文件页数： | 7/8页 |
| 文件大小： | 91K |
| 代理商： | IRHF7430SE |
IRHF7430SE Devices
www.irf.com
7
Q
G
Q
GS
Q
GD
V
G
Charge
D.U.T.
V
DS
I
D
I
G
3mA
V
GS
.3
μ
F
50K
.2
μ
F
12V
Current Regulator
Same Type as D.U.T.
Current Sampling Resistors
+
-
12 V
Fig 13b.
Gate Charge Test Circuit
Fig 13a.
Basic Gate Charge Waveform
Fig 12c.
Maximum Avalanche Energy
Vs. Drain Current
Fig 12b.
Unclamped Inductive Waveforms
Fig 12a.
Unclamped Inductive Test Circuit
tp
V
(BR)DSS
I
AS
R
G
I
AS
0.01
t
p
D.U.T
L
VDS
-V
D D
DRIVER
A
15V
20V
12V
Pre-Irradiation
25
50
75
100
125
150
0
50
100
150
200
250
300
350
Starting T , Junction Temperature ( C)
E
A
ID
1.2A
1.6A
2.6A
TOP
BOTTOM
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PDF描述 |
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参数描述 |
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