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参数资料
| 型号： | LC5512MV-45F484C |
| 厂商： | Lattice Semiconductor Corporation |
| 文件页数： | 44/99页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC XPLD 512MC 4.5NS 484FPBGA |
| 标准包装： | 60 |
| 系列： | ispXPLD® 5000MV |
| 可编程类型： | 系统内可编程 |
| 最大延迟时间 tpd(1)： | 4.5ns |
| 电压电源 - 内部： | 3 V ~ 3.6 V |
| 逻辑元件/逻辑块数目： | 16 |
| 宏单元数： | 512 |
| 输入/输出数： | 253 |
| 工作温度： | 0°C ~ 90°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 484-BBGA |
| 供应商设备封装： | 484-FPBGA（23x23） |
| 包装： | 托盘 |
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Lattice Semiconductor
ispXPLD 5000MX Family Data Sheet
45
Boundary Scan Timing Specifications
Over Recommended Operating Conditions
Parameter
Description
Min
Max
Units
tBTCP
TCK [BSCAN] clock pulse width
40
—
ns
tBTCPH
TCK [BSCAN] clock pulse width high
20
—
ns
tBTCPL
TCK [BSCAN] clock pulse width low
20
—
ns
tBTS
TCK [BSCAN] setup time
8
—
ns
tBTH
TCK [BSCAN] hold time
10
—
ns
tBTRF
TCK [BSCAN] rise/fall time
50
—
mV/ns
tBTCO
TAP controller falling edge of clock to valid output
—
10
ns
tBTCODIS
TAP controller falling edge of clock to valid disable
—
10
ns
tBTCOEN
TAP controller falling edge of clock to valid enable
—
10
ns
tBTCRS
BSCAN test capture register setup time
8
—
ns
tBTCRH
BSCAN test capture register hold time
10
—
ns
tBUTCO
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid output
—
25
ns
tBTUODIS
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid disable
—
25
ns
tBTUPOEN
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid enable
—
25
ns
SELECT
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DISCONTINUED
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PDF描述 |
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参数描述 |
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