参数资料
型号: LCMXO2280C-3BN256I
厂商: Lattice Semiconductor Corporation
文件页数: 43/88页
文件大小: 0K
描述: IC PLD 2280LUTS 211I/O 256CABGA
标准包装: 119
系列: MachXO
可编程类型: 系统内可编程
最大延迟时间 tpd(1): 5.1ns
电压电源 - 内部: 1.71 V ~ 3.465 V
宏单元数: 1140
输入/输出数: 211
工作温度: -40°C ~ 100°C
安装类型: 表面贴装
封装/外壳: 256-LFBGA,CSPBGA
供应商设备封装: 256-CABGA(14x14)
包装: 托盘
其它名称: 220-1073
DC and Switching Characteristics
MachXO Family Data Sheet
Switching Test Conditions
Figure 3-6 shows the output test load that is used for AC testing. The specific values for resistance, capacitance,
voltage, and other test conditions are shown in Figure 3-5.
Figure 3-6. Output Test Load, LVTTL and LVCMOS Standards
V T
R1
DUT
Test Point
CL
Table 3-5. Test Fixture Required Components, Non-Terminated Interfaces
Test Condition
R 1
C L
Timing Ref.
V T
LVTTL, LVCMOS 3.3 = 1.5V
LVTTL and LVCMOS settings (L -> H, H -> L)
?
0pF
LVCMOS 2.5 = V CCIO /2
LVCMOS 1.8 = V CCIO /2
LVCMOS 1.5 = V CCIO /2
LVCMOS 1.2 = V CCIO /2
LVTTL and LVCMOS 3.3 (Z -> H)
LVTTL and LVCMOS 3.3 (Z -> L)
1.5
V OL
V OH
Other LVCMOS (Z -> H)
Other LVCMOS (Z -> L)
LVTTL + LVCMOS (H -> Z)
LVTTL + LVCMOS (L -> Z)
188
0pF
V CCIO /2
V CCIO /2
V OH - 0.15
V OL - 0.15
V OL
V OH
V OL
V OH
Note: Output test conditions for all other interfaces are determined by the respective standards.
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