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参数资料
| 型号： | LFEC10E-5QN208C |
| 厂商： | Lattice Semiconductor Corporation |
| 文件页数： | 92/163页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC FPGA 10.2KLUTS 147I/O 208QFP |
| 标准包装： | 24 |
| 系列： | EC |
| 逻辑元件/单元数： | 10200 |
| RAM 位总计： | 282624 |
| 输入/输出数： | 147 |
| 电源电压： | 1.14 V ~ 1.26 V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 工作温度： | 0°C ~ 85°C |
| 封装/外壳： | 208-BFQFP |
| 供应商设备封装： | 208-PQFP（28x28） |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页当前第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页第115页第116页第117页第118页第119页第120页第121页第122页第123页第124页第125页第126页第127页第128页第129页第130页第131页第132页第133页第134页第135页第136页第137页第138页第139页第140页第141页第142页第143页第144页第145页第146页第147页第148页第149页第150页第151页第152页第153页第154页第155页第156页第157页第158页第159页第160页第161页第162页第163页
2-31
Architecture
LatticeECP/EC Family Data Sheet
Table 2-14. Supported Output Standards
Hot Socketing
The LatticeECP/EC devices have been carefully designed to ensure predictable behavior during power-up and
power-down. Power supplies can be sequenced in any order. During power up and power-down sequences, the
I/Os remain in tristate until the power supply voltage is high enough to ensure reliable operation. In addition,
leakage into I/O pins is controlled within specified limits, this allows for easy integration with the rest of the sys-
tem. These capabilities make the LatticeECP/EC ideal for many multiple power supply and hot-swap applica-
tions.
Configuration and Testing
The following section describes the configuration and testing features of the LatticeECP/EC devices.
IEEE 1149.1-Compliant Boundary Scan Testability
All LatticeECP/EC devices have boundary scan cells that are accessed through an IEEE 1149.1 compliant test
access port (TAP). This allows functional testing of the circuit board, on which the device is mounted, through a
serial scan path that can access all critical logic nodes. Internal registers are linked internally, allowing test data to
Output Standard
Drive
VCCIO (Nom.)
Single-ended Interfaces
LVTTL
4mA, 8mA, 12mA, 16mA, 20mA
3.3
LVCMOS33
4mA, 8mA, 12mA 16mA, 20mA
3.3
LVCMOS25
4mA, 8mA, 12mA, 16mA, 20mA
2.5
LVCMOS18
4mA, 8mA, 12mA, 16mA
1.8
LVCMOS15
4mA, 8mA
1.5
LVCMOS12
2mA, 6mA
1.2
LVCMOS33, Open Drain
4mA, 8mA, 12mA 16mA, 20mA
—
LVCMOS25, Open Drain
4mA, 8mA, 12mA 16mA, 20mA
—
LVCMOS18, Open Drain
4mA, 8mA, 12mA 16mA
—
LVCMOS15, Open Drain
4mA, 8mA
—
LVCMOS12, Open Drain
2mA, 6mA
—
PCI33
N/A
3.3
HSTL18 Class I, II, III
N/A
1.8
HSTL15 Class I, III
N/A
1.5
SSTL3 Class I, II
N/A
3.3
SSTL2 Class I, II
N/A
2.5
SSTL18 Class I
N/A
1.8
Differential Interfaces
Differential SSTL3, Class I, II
N/A
3.3
Differential SSTL2, Class I, II
N/A
2.5
Differential SSTL18, Class I
N/A
1.8
Differential HSTL18, Class I, II, III
N/A
1.8
Differential HSTL15, Class I, III
N/A
1.5
LVDS
N/A
2.5
BLVDS
1
N/A
2.5
LVPECL
1
N/A
3.3
RSDS
1
N/A
2.5
1. Emulated with external resistors.
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PDF描述 |
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