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参数资料
| 型号： | M28W320FSB |
| 厂商： | 意法半导体 |
| 英文描述： | 32Mbit (2Mb x16) and 64Mbit (4Mb x16) 3V Supply, Boot Block, Secure Flash Memories |
| 中文描述： | 32兆（含2Mb × 16）和64Mbit（4Mb的x16）的3V电源，启动块，安全闪存 |
| 文件页数： | 11/45页 |
| 文件大小： | 299K |
| 代理商： | M28W320FSB |
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M28W320EBT, M28W320EBB
DC AND AC PARAMETERS
This section summarizes the operating and mea-
surement conditions, and the DC and AC charac-
teristics of the device. The parameters in the DC
and AC characteristics Tables that follow, are de-
rived from tests performed under the Measure-
ment
Conditions
summarized
in
Table
10,
Operating and AC Measurement Conditions. De-
signers should check that the operating conditions
in their circuit match the measurement conditions
when relying on the quoted parameters.
Table 10. Operating and AC Measurement Conditions
Figure 6. AC Measurement I/O Waveform
Figure 7. AC Measurement Load Circuit
Table 11. Device Capacitance
Note: Sampled only, not 100% tested.
M28W320EBT, M28W320EBB
Parameter
70
85
90
100
Units
Min
Max
Min
Max
Min
Max
Min
Max
VDD Supply Voltage
2.7
3.6
2.7
3.6
2.7
3.6
2.7
3.6
V
VDDQ Supply Voltage (VDDQ ≤ VDD)
2.7
3.6
2.7
3.6
2.7
3.6
1.65
3.6
V
Ambient Operating Temperature
– 40
85
– 40
85
– 40
85
– 40
85
°C
Load Capacitance (CL)
50
pF
Input Rise and Fall Times
5
ns
Input Pulse Voltages
0 to VDDQ
V
Input and Output Timing Ref.
Voltages
VDDQ/2
V
AI00610
VDDQ
0V
VDDQ/2
AI00609C
VDDQ
CL
CL includes JIG capacitance
25k
DEVICE
UNDER
TEST
0.1F
VDD
0.1F
VDDQ
25k
Symbol
Parameter
Test Condition
Min
Max
Unit
CIN
Input Capacitance
VIN = 0V
6pF
COUT
Output Capacitance
VOUT = 0V
12
pF
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