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参数资料
| 型号： | MAX16046ATN+ |
| 厂商： | Maxim Integrated Products |
| 文件页数： | 55/70页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC EE-PROG SYS MGR 12CH 56-TQFN |
| 产品培训模块： | Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program |
| 标准包装： | 37 |
| 类型： | 系统管理器 |
| 监视电压数目： | 12 |
| 输出： | 开路漏极，推挽式 |
| 复位： | 低有效 |
| 复位超时： | 可调节/可选择 |
| 电压 - 阀值： | 可调节/可选择 |
| 工作温度： | -40°C ~ 125°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 56-WFQFN 裸露焊盘 |
| 供应商设备封装： | 56-TQFN-EP（8x8） |
| 包装： | 托盘 |
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MAX16046/MAX16048
12-Channel/8-Channel EEPROM-Programmable
System Managers with Nonvolatile Fault Registers
Test Access Port (TAP)
Controller State Machine
The TAP controller is a finite state machine that
responds to the logic level at TMS on the rising edge of
TCK. See Figure 14 for a diagram of the finite state
machine. The possible states are described below:
Test-Logic-Reset: At power-up, the TAP controller is in
the test-logic-reset state. The instruction register con-
tains the IDCODE instruction. All system logic of the
device operates normally. This state can be reached
from any state by driving TMS high for five clock cycles.
Run-Test/Idle: The run-test/idle state is used between
scan operations or during specific tests. The instruction
register and test data registers remain idle.
Select-DR-Scan: All test data registers retain their pre-
vious state. With TMS low, a rising edge of TCK moves
the controller into the capture-DR state and initiates a
scan sequence. TMS high during a rising edge on TCK
moves the controller to the select-IR-scan state.
Capture-DR: Data can be parallel-loaded into the test
data registers selected by the current instruction. If the
instruction does not call for a parallel load or the select-
ed test data register does not allow parallel loads, the
test data register remains at its current value. On the
rising edge of TCK, the controller goes to the shift-DR
state if TMS is low or it goes to the exit1-DR state if TMS
is high.
1
TEST-LOGIC-RESET
0
0
RUN-TEST/IDLE
1
SELECT-DR-SCAN
1
SELECT-IR-SCAN
1
0
0
1
CAPTURE-DR
0
1
CAPTURE-IR
0
SHIFT-DR
1
EXIT1-DR
0
PAUSE-DR
1
0
1
0
SHIFT-IR
1
EXIT1-IR
0
PAUSE-IR
1
0
1
0
0
1
EXIT2-DR
1
UPDATE-DR
0
0
1
EXIT2-IR
1
UPDATE-IR
0
Figure 14. TAP Controller State Diagram
Maxim Integrated
55
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| MAX16047ETN+ | IC EE-PROG SYS MGR 12CH 56-TQFN |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| MAX16046ATN+ | 功能描述:监控电路 12Ch EEPROM Prob System Manager RoHS:否 制造商:STMicroelectronics 监测电压数: 监测电压: 欠电压阈值: 过电压阈值: 输出类型:Active Low, Open Drain 人工复位:Resettable 监视器:No Watchdog 电池备用开关:No Backup 上电复位延迟（典型值）:10 s 电源电压-最大:5.5 V 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:UDFN-6 封装:Reel |
| MAX16046ATN+T | 功能描述:监控电路 12Ch EEPROM Prob System Manager RoHS:否 制造商:STMicroelectronics 监测电压数: 监测电压: 欠电压阈值: 过电压阈值: 输出类型:Active Low, Open Drain 人工复位:Resettable 监视器:No Watchdog 电池备用开关:No Backup 上电复位延迟（典型值）:10 s 电源电压-最大:5.5 V 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:UDFN-6 封装:Reel |
| MAX16046ECB+ | 功能描述:监控电路 12Ch EEPROM Prob System Manager RoHS:否 制造商:STMicroelectronics 监测电压数: 监测电压: 欠电压阈值: 过电压阈值: 输出类型:Active Low, Open Drain 人工复位:Resettable 监视器:No Watchdog 电池备用开关:No Backup 上电复位延迟（典型值）:10 s 电源电压-最大:5.5 V 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:UDFN-6 封装:Reel |
| MAX16046ECB+T | 功能描述:监控电路 12Ch EEPROM Prob System Manager RoHS:否 制造商:STMicroelectronics 监测电压数: 监测电压: 欠电压阈值: 过电压阈值: 输出类型:Active Low, Open Drain 人工复位:Resettable 监视器:No Watchdog 电池备用开关:No Backup 上电复位延迟（典型值）:10 s 电源电压-最大:5.5 V 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:UDFN-6 封装:Reel |
| MAX16046ETN+ | 功能描述:监控电路 12Ch EEPROM Prob System Manager RoHS:否 制造商:STMicroelectronics 监测电压数: 监测电压: 欠电压阈值: 过电压阈值: 输出类型:Active Low, Open Drain 人工复位:Resettable 监视器:No Watchdog 电池备用开关:No Backup 上电复位延迟（典型值）:10 s 电源电压-最大:5.5 V 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:UDFN-6 封装:Reel |
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