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参数资料
| 型号： | PESD3V3L5UV,115 |
| 厂商： | NXP Semiconductors |
| 文件页数： | 9/17页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | DIODE 5FOLD ESD PROTECT SSMINI6 |
| 标准包装： | 4,000 |
| 电压 - 反向隔离（标准值）： | 3.3V |
| 电压 - 击穿： | 5.3V |
| 功率（瓦特）： | 25W |
| 电极标记： | 5 通道阵列 - 单向 |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | SOT-563，SOT-666 |
| 供应商设备封装： | SOT-666 |
| 包装： | 带卷 (TR) |
NXP Semiconductors
ESD TESTER
PESDxL5UF/V/Y
Low capacitance unidirectional ?vefold ESD protection diode arrays
4 GHz DIGITAL
R Z
450 ?
RG 223/U
50 ? coax
10 ×
OSCILLOSCOPE
ATTENUATOR
(1)
C Z
IEC 61000-4-2 network
C Z = 150 pF; R Z = 330 ?
DUT
Device
Under
Test
50 ?
(1): attenuator is only used for open
socket high voltage measurements
vertical scale = 200 V/div
horizontal scale = 50 ns/div
GND1
vertical scale = 5 V/div
horizontal scale = 50 ns/div
PESD5V0L5UF/V/Y
GND
unclamped +1 kV ESD voltage waveform
(IEC 61000-4-2 network)
GND2
PESD3V3L5UF/V/Y
clamped +1 kV ESD voltage waveform
(IEC 61000-4-2 network)
GND
GND
vertical scale = 200 V/div
horizontal scale = 50 ns/div
unclamped ? 1 kV ESD voltage waveform
vertical scale = 5 V/div
horizontal scale = 50 ns/div
clamped ? 1 kV ESD voltage waveform
(IEC 61000-4-2 network)
Fig 8. ESD clamping test setup and waveforms
PESDXL5UF_V_Y_2
(IEC 61000-4-2 network)
006aab143
? NXP B.V. 2008. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 02 — 8 January 2008
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PDF描述 |
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参数描述 |
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| PESD3V3S1UB115 | 制造商:NXP Semiconductors 功能描述:ESD DIODE 20V Unidirectional SOD-523 |
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