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参数资料
| 型号： | PIC18F66K90-E/PT |
| 厂商： | Microchip Technology |
| 文件页数： | 9/110页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC MCU 8BIT 64KB FLASH 64TQFP |
| 标准包装： | 160 |
| 系列： | PIC® XLP™ 18F |
| 核心处理器： | PIC |
| 芯体尺寸： | 8-位 |
| 速度： | 64MHz |
| 连通性： | I²C，LIN，SPI，UART/USART |
| 外围设备： | 欠压检测/复位，LCD，POR，PWM，WDT |
| 输入/输出数： | 53 |
| 程序存储器容量： | 64KB（32K x 16） |
| 程序存储器类型： | 闪存 |
| EEPROM 大小： | 1K x 8 |
| RAM 容量： | 4K x 8 |
| 电压 - 电源 (Vcc/Vdd)： | 1.8 V ~ 5.5 V |
| 数据转换器： | A/D 16x12b |
| 振荡器型： | 内部 |
| 工作温度： | -40°C ~ 125°C |
| 封装/外壳： | 64-TQFP |
| 包装： | 托盘 |
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PIC18F47J53 FAMILY
DS39964B-page 456
Preliminary
2010 Microchip Technology Inc.
FIGURE 28-4:
FSCM BLOCK DIAGRAM
Clock failure is tested for on the falling edge of the
sample clock. If a sample clock falling edge occurs
while the clock monitor is still set, and a clock failure
has been detected (Figure 28-5), the following results:
The FSCM generates an oscillator fail interrupt by
setting bit, OSCFIF (PIR2<7>);
The device clock source is switched to the internal
oscillator block (OSCCON is not updated to show
the current clock source – this is the Fail-safe
condition); and
The WDT is reset.
During switchover, the postscaler frequency from the
internal oscillator block may not be sufficiently stable
for timing-sensitive applications. In these cases, it may
be desirable to select another clock configuration and
enter an alternate power-managed mode. This can be
done to attempt a partial recovery or execute a
controlled shutdown. See Section 4.1.4 “Multiple
more details.
The FSCM will detect failures of the primary or secondary
clock sources only. If the internal oscillator block fails, no
failure would be detected, nor would any action be
possible.
28.5.1
FSCM AND THE WATCHDOG TIMER
Both the FSCM and the WDT are clocked by the
INTRC oscillator. Since the WDT operates with a
separate divider and counter, disabling the WDT has
no effect on the operation of the INTRC oscillator when
the FSCM is enabled.
As already noted, the clock source is switched to the
INTRC clock when a clock failure is detected; this may
mean a substantial change in the speed of code execu-
tion. If the WDT is enabled with a small prescale value,
a decrease in clock speed allows a WDT time-out to
occur and a subsequent device Reset. For this reason,
Fail-Safe Clock Monitor events also reset the WDT and
postscaler, allowing it to start timing from when execu-
tion speed was changed and decreasing the likelihood
of an erroneous time-out.
FIGURE 28-5:
FSCM TIMING DIAGRAM
Peripheral
INTRC
÷ 64
S
C
Q
(32
s)
488 Hz
(2.048 ms)
Clock Monitor
Latch
(edge-triggered)
Clock
Failure
Detected
Source
Clock
Q
OSCFIF
Clock Monitor
Device
Clock
Output
Sample Clock
Failure
Detected
Oscillator
Failure
Note:
The device clock is normally at a much higher frequency than the sample clock. The relative frequencies in
this example have been chosen for clarity.
Output (Q)
Clock Monitor Test
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PDF描述 |
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参数描述 |
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| PIC18F66K90-I/PT | 功能描述:8位微控制器 -MCU 64kB Flash 4kB RAM LCD RoHS:否 制造商:Silicon Labs 核心:8051 处理器系列:C8051F39x 数据总线宽度:8 bit 最大时钟频率:50 MHz 程序存储器大小:16 KB 数据 RAM 大小:1 KB 片上 ADC:Yes 工作电源电压:1.8 V to 3.6 V 工作温度范围:- 40 C to + 105 C 封装 / 箱体:QFN-20 安装风格:SMD/SMT |
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