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参数资料
| 型号： | SN54LVTH18512 |
| 厂商： | Texas Instruments, Inc. |
| 英文描述： | 3.3-V ABT Scan Test Device With 18-Bit Universal Bus Transceivers(3.3VABT扫描测试装置(18位通用总线收发器)) |
| 中文描述： | 的3.3V ABT生根粉扫描测试设备与18位通用总线收发器（3.3VABT扫描测试装置（18位通用总线收发器）） |
| 文件页数： | 3/34页 |
| 文件大小： | 726K |
| 代理商： | SN54LVTH18512 |
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SN54LVTH18512, SN54LVTH182512, SN74LVTH18512, SN74LVTH182512
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES
WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
SCBS671A – AUGUST 1996 – REVISED JUNE 1997
3
POST OFFICE BOX 655303
DALLAS, TEXAS 75265
functional block diagram
2A1
1D
C1
1D
C1
1D
C1
1D
C1
Boundary-Control
Register
Bypass Register
Identification
Register
Boundary-Scan Register
Instruction
Register
TAP
Controller
2LEBA
2CLKBA
2OEBA
TDI
TMS
TCK
2B1
TDO
2OEAB
2LEAB
2CLKAB
1A1
1D
C1
1D
C1
1D
C1
1D
C1
1LEBA
1CLKBA
1OEBA
1B1
1OEAB
1LEAB
1CLKAB
VCC
34
VCC
32
One of Nine Channels
One of Nine Channels
2
1
3
63
64
VCC
62
4
29
30
VCC
28
36
35
VCC
37
16
33
61
49
31
VCC
P
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| SN54LVTH182512 | 3.3-V ABT Scan Test Device With 18-Bit Universal Bus Transceivers(3.3VABT扫描测试装置(18位通用总线收发器)) |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
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