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参数资料
| 型号： | SN54LVTH18640 |
| 厂商： | Texas Instruments, Inc. |
| 英文描述： | 3.3-V ABT Scan Test Device With 18-Bit Inverting Bus Transceivers(3.3V ABT 扫描检测装置(18位反相总线收发器)) |
| 中文描述： | 的3.3V ABT生根粉扫描测试设备与18位反相总线收发器（3.3V的ABT生根粉扫描检测装置（18位反相总线收发器）） |
| 文件页数： | 27/34页 |
| 文件大小： | 707K |
| 代理商： | SN54LVTH18640 |
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SN54LVTH18640, SN54LVTH182640, SN74LVTH18640, SN74LVTH182640
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES
WITH 18-BIT INVERTING BUS TRANSCEIVERS
SCBS310C – MARCH 1994 – REVISED DECEMBER 1996
27
POST OFFICE BOX 655303
DALLAS, TEXAS 75265
timing requirements over recommended operating free-air temperature range (unless otherwise
noted) (test mode) (see Note 4 and Figure 14)
SN54LVTH18640
VCC = 3.3 V
±
0.3 V
SN74LVTH18640
VCC = 3.3 V
±
0.3 V
UNIT
VCC = 2.7 V
VCC = 2.7 V
MIN
MAX
MIN
MAX
MIN
MAX
MIN
MAX
fclock
tw
Clock frequency
TCK
0
50
MHz
Pulse duration
TCK high or low
A, B, DIR, or OE before TCK
↑
TDI before TCK
↑
TMS before TCK
↑
A, B, DIR, or OE after TCK
↑
TDI after TCK
↑
TMS after TCK
↑
Power up to TCK
↑
VCC power up
9.5
ns
Setup time
6.5
tsu
2.5
ns
2.5
H ld i
Hold time
1.5
th
1.5
ns
1.5
td
tr
Delay time
50
ns
μ
s
Rise time
1
NOTE 4: Product preview specifications are design goals only and are subject to change without notice.
P
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PDF描述 |
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