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参数资料
| 型号： | SST89E54RD2A-40-C-NJE |
| 元件分类： | 微控制器/微处理器 |
| 英文描述： | 8-BIT, FLASH, 40 MHz, MICROCONTROLLER, PQCC44 |
| 封装： | ROHS COMPLIANT, PLASTIC, MS-018AC, LCC-44 |
| 文件页数： | 72/78页 |
| 文件大小： | 1671K |
| 代理商： | SST89E54RD2A-40-C-NJE |
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74
Data Sheet
FlashFlex MCU
SST89E54RD2A/RDA / SST89E58RD2A/RDA
2008 Silicon Storage Technology, Inc.
S71339-02-000
02/08
FIGURE
14-6: Shift Register Mode Timing Waveforms
FIGURE
14-7: AC Testing Input/Output Test
Waveform
FIGURE
14-8: Float Waveform
TABLE
14-9: Serial Port Timing
Symbol
Parameter
Oscillator
Units
40MHz
Variable
Min
Max
Min
Max
TXLXL
Serial Port Clock Cycle Time
0.3
12TCLCL
s
TQVXH
Output Data Setup to Clock Rising Edge
117
10TCLCL - 133
ns
TXHQX
Output Data Hold After Clock Rising Edge
2TCLCL - 117
ns
02TCLCL - 50
ns
TXHDX
Input Data Hold After Clock Rising Edge
00
ns
TXHDV
Clock Rising Edge to Input Data Valid
117
10TCLCL - 133
ns
T14-9.0 1339
1339 F39.0
ALE
0
INSTRUCTION
CLOCK
OUTPUT DATA
WRITE TO SBUF
VALID
INPUT DATA
CLEAR RI
01
2
3
4
5
6
7
TXLXL
TQVXH
TXHQX
TXHDV
TXHDX
SET TI
SET RI
1
2
3
4
5
6
7
8
VLT
AC Inputs during testing are driven at VIHT (VDD -0.5V) for Logic “1” and
VILT (0.45V) for a Logic “0”. Measurement reference points for inputs and
outputs are at VHT (0.2VDD + 0.9) and VLT (0.2VDD - 0.1)
VHT
VIHT
VILT
1339 F40.0
Note: VHT- VHIGH Test
VLT- VLOW Test
VIHT-VINPUT HIGH Test
VILT- VINPUT LOW Test
For timing purposes, a port pin is no longer floating when a 100 mV
change from load voltage occurs, and begins to float when a 100 mV
change from the loaded VOH/VOL level occurs. IOL/IOH = ± 20mA.
VLOAD +0.1V
VLOAD -0.1V
VOH -0.1V
Timing Reference
Points
VOL +0.1V
VLOAD
1339 F41.0
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