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参数资料
| 型号： | SSTUAF32868BHLFT |
| 厂商： | IDT, Integrated Device Technology Inc |
| 文件页数： | 11/22页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC REG BUFFER 28BIT DDR2 176BGA |
| 产品变化通告： | Product Discontinuation 09/Dec/2011 |
| 标准包装： | 1,000 |
| 逻辑类型： | 1:1、1:2 可配置寄存缓冲器 |
| 电源电压： | 1.7 V ~ 1.9 V |
| 位数： | 28 |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 176-TFBGA |
| 供应商设备封装： | 176-CABGA（6x15） |
| 包装： | 带卷 (TR) |
ICSSSTUAF32868B
28-BIT CONFIGURABLE REGISTERED BUFFER FOR DDR2
COMMERCIAL TEMPERATURE GRADE
28-BIT CONFIGURABLE REGISTERED BUFFER FOR DDR2
19
ICSSSTUAF32868B
7102/2
Test Circuits and Waveforms (VDD = 1.8V ± 0.1V)
Load Circuit: High-to-Low Slew-Rate Adjustment
Voltage Waveforms: High-to-Low Slew-Rate Adjustment
Load Circuit: Low-to-High Slew-Rate Adjustment
Voltage Waveforms: Low-to-High Slew-Rate Adjustment
Load Circuit: Error Output Measurements
Voltage Waveforms: Open Drain Output Low-to-High
Transition Time (with respect to RESET input)
Voltage Waveforms: Open Drain Output High-to-Low
Transition Time (with respect to clock inputs)
Voltage Waveforms: Open Drain Output Low-to-High
Transition Time (with respect to clock inputs)
NOTES:
1. CL includes probe and jig capacitance.
2. All input pulses are supplied by generators having the following characteristics: PRR
≤10MHz, Zo = 50Ω, input
slew rate = 1 V/ns ±20% (unless otherwise specified).
CL =10 pF
RL =50
Ω
DUT
Out
Test Point
VDD
VOH
80%
20%
VOL
Output
dv_f
dt_f
CL =10pF
RL =50
Ω
DUT
Out
Test Point
VOL
20%
80%
VOH
Output
dv_r
dt_r
CL =10 pF
RL =1K
Ω
DUT
Out
Test Point
VDD
VOH
VCC
Output
Waveform 2
LVCMOS
RESET
Input
tPLH
VCC/2
0.15V
0V
VCC
VICR
tHL
Timing
Inputs
VICR
VI(PP)
Output
Waveform 1
VCC/2
VOL
VOH
Output
Waveform 2
0.15V
0V
VICR
tHL
Timing
Inputs
VICR
VI(PP)
相关PDF资料 |
PDF描述 |
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| SSTUB32866BHLFT | IC REGIST BUFF 25BIT DDR2 96-BGA |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
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