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参数资料
| 型号： | AUIRFSL3607 |
| 元件分类： | JFETs |
| 英文描述： | 80 A, 75 V, 0.009 ohm, N-CHANNEL, Si, POWER, MOSFET, TO-262AA |
| 封装： | ROHS COMPLIANT, PLASTIC, TO-262, 3 PIN |
| 文件页数： | 10/12页 |
| 文件大小： | 280K |
| 代理商： | AUIRFSL3607 |
AUIRFS/SL3607
www.irf.com
7
Fig 22a. Switching Time Test Circuit
Fig 22b. Switching Time Waveforms
V
GS
V
DS
90%
10%
t
d(on)
t
d(off)
t
r
t
f
V
GS
Pulse Width < 1μs
Duty Factor < 0.1%
V
DD
V
DS
L
D
D.U.T
+
-
Fig 21b. Unclamped Inductive Waveforms
Fig 21a. Unclamped Inductive Test Circuit
tp
V(BR)DSS
IAS
RG
IAS
0.01
Ω
tp
D.U.T
L
VDS
+
- VDD
DRIVER
A
15V
20V
VGS
Fig 23a. Gate Charge Test Circuit
Fig 23b. Gate Charge Waveform
Vds
Vgs
Id
Vgs(th)
Qgs1 Qgs2
Qgd
Qgodr
Fig 20.
Peak Diode Recovery dv/dt Test Circuit for N-Channel
HEXFET Power MOSFETs
1K
VCC
DUT
0
L
CircuitLayoutConsiderations
Low Stray Inductance
Ground Plane
Low Leakage Inductance
Current Transformer
P.W.
Period
di/dt
Diode Recovery
dv/dt
Ripple
≤ 5%
Body Diode
Forward Drop
Re-Applied
Voltage
Reverse
Recovery
Current
Body Diode Forward
Current
VGS=10V
VDD
ISD
Driver Gate Drive
D.U.T. ISD Waveform
D.U.T. VDS Waveform
Inductor Curent
D =
P.W.
Period
* VGS = 5V for Logic Level Devices
*
+
-
+
-
RG
VDD
dv/dt controlled by RG
Driver same type as D.U.T.
ISD controlled by Duty Factor "D"
D.U.T. - Device Under Test
D.U.T
InductorCurrent
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PDF描述 |
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