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参数资料
| 型号： | DS2172T/T&R |
| 厂商： | Maxim Integrated Products |
| 文件页数： | 14/22页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP |
| 产品培训模块： | Lead (SnPb) Finish for COTS |
| 产品变化通告： | Product Discontinuation 20/Feb/2012 |
| 标准包装： | 250 |
| 功能： | 位误码率测试器（BERT） |
| 接口： | T1 |
| 电路数： | 1 |
| 电源电压： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 电流 - 电源： | 10mA |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 32-TQFP |
| 供应商设备封装： | 32-TQFP（7x7） |
| 包装： | 带卷 (TR) |
| 包括： | 错误计数器，样式发生器和检测器 |
DS2172
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RECEIVE AC TIMING Figure 6
TRANSMIT AC TIMING Figure 7
NOTE: When TDIS is high about the rising edge of TCLK, TDATA will not be updated and will be held with the previous valve until TDIS is low
about the rising edge of TCLK.
TRANSMIT AC TIMING FOR THE TL INPUT Figure 8
NOTE: The rising edge of TL causes the internal pattern generation circuitry to be reloaded; the first bit of the new pattern (the shaded one) will
appear after two TCLK periods.
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
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| DS2174DK | 制造商:未知厂家 制造商全称:未知厂家 功能描述:Enhanced Bit Error-Rate Tester Design Kit |
| DS2174Q | 功能描述:电信集成电路 Enhanced Bit Error Rate Tester (BERT) RoHS:否 制造商:STMicroelectronics 类型:Telecom IC - Various 工作电源电压:4.75 V to 5.25 V 电源电流: 工作温度范围:- 40 C to + 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:PQFP-100 封装:Tray |
| DS2174Q/T&R+ | 制造商:Maxim Integrated Products 功能描述:BIT ERROR RATE TESTER 44PLCC - Tape and Reel |
| DS2174Q/T&R | 功能描述:电信集成电路 RoHS:否 制造商:STMicroelectronics 类型:Telecom IC - Various 工作电源电压:4.75 V to 5.25 V 电源电流: 工作温度范围:- 40 C to + 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:PQFP-100 封装:Tray |
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