收藏本站
参数资料
型号： EPF10K30RC208-3N
厂商： Altera
文件页数： 68/128页
文件大小： 0K
描述： IC FLEX 10K FPGA 30K 208-RQFP
产品培训模块： Three Reasons to Use FPGA's in Industrial Designs
产品变化通告： Package Change 30/Jun/2010
标准包装： 48
系列： FLEX-10K®
LAB/CLB数： 216
逻辑元件/单元数： 1728
RAM 位总计： 12288
输入/输出数： 147
门数： 69000
电源电压： 4.75 V ~ 5.25 V
安装类型： 表面贴装
工作温度： 0°C ~ 85°C
封装/外壳： 208-BFQFP 裸露焊盘
供应商设备封装： 240-RQFP（32x32）
其它名称： 544-2228
44
Altera Corporation
FLEX 10K Embedded Programmable Logic Device Family Data Sheet
Generic Testing
Each FLEX 10K device is functionally tested. Complete testing of each
configurable SRAM bit and all logic functionality ensures 100% yield.
AC test measurements for FLEX 10K devices are made under conditions
equivalent to those shown in Figure 19. Multiple test patterns can be used
to configure devices during all stages of the production flow.
Figure 19. FLEX 10K AC Test Conditions
Operating
Conditions
Tables 17 through 21 provide information on absolute maximum ratings,
recommended operating conditions, DC operating conditions, and
capacitance for 5.0-V FLEX 10K devices.
VCC
To Test
System
C1 (includes
JIG capacitance)
Device input
rise and fall
times < 3 ns
Device
Output
250
(8.06 k
)
[481
]
464
(703
)
[521
]
Power supply transients can affect AC
measurements. Simultaneous transitions of
multiple outputs should be avoided for
accurate measurement. Threshold tests must
not be performed under AC conditions.
Large-amplitude, fast-ground-current
transients normally occur as the device
outputs discharge the load capacitances.
When these transients flow through the
parasitic inductance between the device
ground pin and the test system ground,
significant reductions in observable noise
immunity can result. Numbers without
parentheses are for 5.0-V devices or outputs.
Numbers in parentheses are for 3.3-V devices
or outputs. Numbers in brackets are for
2.5-V devices or outputs.
Table 17. FLEX 10K 5.0-V Device Absolute Maximum Ratings
Note (1)
Symbol
Parameter
Conditions
Min
Max
Unit
VCC
Supply voltage
With respect to ground (2)
–2.0
7.0
V
VI
DC input voltage
–2.0
7.0
V
IOUT
DC output current, per pin
–25
25
mA
TSTG
Storage temperature
No bias
–65
150
° C
TAMB
Ambient temperature
Under bias
–65
135
° C
TJ
Junction temperature
Ceramic packages, under bias
150
° C
PQFP, TQFP, RQFP, and BGA
packages, under bias
135
° C
相关PDF资料
PDF描述
HBC50DRAS CONN EDGECARD 100PS R/A .100 SLD
AIML-0603-1R2K-T INDUCTOR MULTILAYER 1200NH 0603
VI-25J-CW-F3 CONVERTER MOD DC/DC 36V 100W
GSC49DRAN CONN EDGECARD 98POS R/A .100 SLD
VI-25J-CW-F1 CONVERTER MOD DC/DC 36V 100W
相关代理商/技术参数
参数描述
EPF10K30RC208-4 功能描述:FPGA - 现场可编程门阵列 FPGA - Flex 10K 216 LABs 147 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 栅极数量: 逻辑块数量:943 内嵌式块RAM - EBR:1956 kbit 输入/输出端数量:128 最大工作频率:800 MHz 工作电源电压:1.1 V 最大工作温度:+ 70 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:FBGA-256
EPF10K30RC208-4N 功能描述:FPGA - 现场可编程门阵列 FPGA - Flex 10K 216 LABs 147 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 栅极数量: 逻辑块数量:943 内嵌式块RAM - EBR:1956 kbit 输入/输出端数量:128 最大工作频率:800 MHz 工作电源电压:1.1 V 最大工作温度:+ 70 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:FBGA-256
EPF10K30RC240-3 功能描述:FPGA - 现场可编程门阵列 FPGA - Flex 10K 216 LABs 189 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 栅极数量: 逻辑块数量:943 内嵌式块RAM - EBR:1956 kbit 输入/输出端数量:128 最大工作频率:800 MHz 工作电源电压:1.1 V 最大工作温度:+ 70 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:FBGA-256
EPF10K30RC240-3N 功能描述:FPGA - 现场可编程门阵列 FPGA - Flex 10K 216 LABs 189 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 栅极数量: 逻辑块数量:943 内嵌式块RAM - EBR:1956 kbit 输入/输出端数量:128 最大工作频率:800 MHz 工作电源电压:1.1 V 最大工作温度:+ 70 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:FBGA-256
EPF10K30RC240-4 功能描述:FPGA - 现场可编程门阵列 FPGA - Flex 10K 216 LABs 189 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 栅极数量: 逻辑块数量:943 内嵌式块RAM - EBR:1956 kbit 输入/输出端数量:128 最大工作频率:800 MHz 工作电源电压:1.1 V 最大工作温度:+ 70 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:FBGA-256
发布紧急采购，3分钟左右您将得到回复。

采购需求

(若只采购一条型号，填写一行即可)

发布成功！您可以继续发布采购。也可以进入我的后台，查看报价

发布成功！您可以继续发布采购。也可以进入我的后台，查看报价

*型号 *数量 厂商 批号 封装
添加更多采购

我的联系方式

*
*
*