参数资料
| 型号： | ISL6263DHRZ-T |
| 厂商： | Intersil |
| 文件页数： | 7/17页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC VREG 3BIT 1PHASE 32-QFN |
| 标准包装： | 6,000 |
| 应用： | 转换器，GPU 内核电源 |
| 输入电压： | 5 V ~ 25 V |
| 输出数： | 1 |
| 输出电压： | 0.7 V ~ 1.09 V |
| 工作温度： | -10°C ~ 100°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 32-VFQFN 裸露焊盘 |
| 供应商设备封装： | 32-QFN（5x5） |
| 包装： | 带卷 (TR) |
ISL6263D
Electrical Specifications
These specifications apply for T A = -10°C to +100°C, unless otherwise stated. All typical specifications
T A = +25°C, V DD = 5V, PVCC = 5V. Boldface limits apply over the operating temperature range,
-10°C to +100°C. (Continued)
MIN
MAX
PARAMETER
SYMBOL
TEST CONDITIONS
(Note 6)
TYP
(Note 6)
UNITS
POWER-GOOD and PROTECTION MONITOR
PGOOD Low Voltage
PGOOD Leakage Current
V PGOOD
I PGOOD
I PGOOD = 4mA
V PGOOD = 3.3V
-1.0
0.11
0.40
1.0
V
μA
Overvoltage Threshold (V O -V SOFT )
Severe Overvoltage Threshold
OCSET Reference Current
V OVP
V OVPS
I OCSET
V O rising above V SOFT > 1ms
V O rising above 1.55V reference > 0.5μs
R RBIAS = 150k ?
155
1.525
9.95
195
1.550
10.15
235
1.575
10.35
mV
V
μA
OCSET Voltage Threshold Offset
V OCSET_OFS V ICOMP rising above V OCSET > 120μs
-3
3
mV
Undervoltage Threshold (V SOFT -V O )
V UVF
V O falling below V SOFT for > 1ms
-360
-300
-240
mV
CONTROL INPUTS
VR_ON Input Low
VR_ON Input High
AF_EN Input Low
AF_EN Input High
V VR_ONL
V VR_ONH
V AF_ENL
V AF_ENH
2.3
2.3
1
1
V
V
V
V
VR_ON Leakage
AF_EN Leakage
I VR_ONL
I VR_ONH
I AF_ENL
I AF_ENH
V VR_ON = 0V
V VR_ON = 3.3V
V AF_EN = 0V
V AF_EN = 3.3V
-1.0
-1.0
0
0
0
0.45
1.0
1.0
μA
μA
μA
μA
VID<2:0> and OFFSET<1:0> Input Low
VID<2:0> and OFFSET<1:0> Input High
FDE Input Low
FDE Input High
V VIDL
V VIDH
V FDEL
V FDEH
0.7
0.7
0.3
0.3
V
V
V
V
VID<2:0> and OFFSET<1:0> Leakage
FDE Leakage
I VIDL
I VIDH
I FDEL
I FDEH
V VID = 0V
V VID = 1.0V
V FDE = 0V
V FDE = 1.0V
-1.0
-1.0
0
0.45
0
0.45
1.0
1.0
μA
μA
μA
μA
NOTES:
6. Parameters with MIN and/or MAX limits are 100% tested at +25°C, unless otherwise specified. Temperature limits established by characterization
and are not production tested.
7. Limits established by characterization and are not production tested.
7
FN6753.1
July 8, 2010
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