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参数资料
| 型号： | ISL95210HRZ-T7A |
| 厂商： | Intersil |
| 文件页数： | 6/20页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC REG BUCK SYNC ADJ 10A 32QFN |
| 标准包装： | 1 |
| 类型： | 降压（降压） |
| 输出类型： | 可调式 |
| 输出数： | 1 |
| 输出电压： | 0.6 V ~ 2.16 V |
| 输入电压： | 2.97 V ~ 5.5 V |
| PWM 型： | R4 |
| 频率 - 开关： | 400kHz ~ 800kHz |
| 电流 - 输出： | 10A |
| 同步整流器： | 是 |
| 工作温度： | -10°C ~ 100°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 32-VFQFN 裸露焊盘 |
| 包装： | 标准包装 |
| 供应商设备封装： | 32-QFN（4x6） |
| 其它名称： | ISL95210HRZ-T7ADKR |
ISL95210
Electrical Specifications Recommended Operating Conditions, Unless Otherwise Specified. Boldface limits apply over the operating
temperature range (-10°C to +100°C for ISL95210HRZ; -40°C to +100°C for ISL95210IRZ). (Continued)
MIN
MAX
PARAMETER
TEST CONDITIONS
(Note 7)
TYP
(Note 7) UNITS
REFERENCE AND DAC
System Accuracy ISL95210HRZ
-10°C to +100°C
System Accuracy ISL95210IRZ
-40°C to +100°C
Line Regulation Accuracy
Load Regulation Accuracy
VOUT = {0.700V to 2.1625V}, VIN = 5V
VOUT = {0.48125V to 0.700V}, VIN = 5V
VOUT = {0.700V to 2.1625V}, VIN = 5V
VOUT = {0.48125V to 0.700V}, VIN = 5V
4.5V < VIN < 5.5V
FCCM = high, Inductor DCR = 2m Ω
-0.60
-0.75
-0.75
-1
0.05
0.08
0.60
0.75
0.75
1
%
%
%
%
%
%
SOFT-START RAMP
Soft-Start and VSEL Slew Rate
1.6
2.3
3.0
mV/μs
PROTECTION
Overcurrent Trip Level
Undervoltage Threshold
Overvoltage Rising Threshold
Overvoltage Falling Threshold
Power-Good Pull-Up Resistance
Power-Good Pull-Down Resistance
VOUT Soft-Discharge Resistance
Valley Current Limit (8 PWM Pulse Count)
Peak Way-Overcurrent (~1μs delay)
VOUT:VDAC
VOUT:VDAC
VOUT:VDAC
All Shutdown Conditions
10
28
81
112
99
1.8
30
25
12.5
35
84
116
102
2.3
50
45
14
43
87
120
106
2.8
70
65
A
A
%
%
%
k Ω
Ω
Ω
POWER MOSFET ON-RESISTANCE
High-Side PMOS
High-Side PMOS
Low-Side NMOS
Low-Side NMOS
+25°C only
+25°C only
14.8
3.8
16.52
19.5
4.28
5.7
m Ω
m Ω
m Ω
m Ω
Thermal Shutdown Setpoint
Thermal Recovery Setpoint
150
125
°C
°C
NOTES:
6. Thermal impedance measured in still air on the ISL95210EVAL1Z REV B evaluation board with 800kHz setup. See AN1485 .
7. Compliance to datasheet limits is assured by one or more methods: production test, characterization and/or design.
6
FN6938.4
December 15, 2011
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