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参数资料
| 型号： | PIC12LF1840-I/MF |
| 厂商： | Microchip Technology |
| 文件页数： | 64/122页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | MCU 7KB FLASH 256B RAM 8-DFN |
| 产品培训模块： | 8-bit PIC® Microcontroller Portfolio |
| 标准包装： | 120 |
| 系列： | PIC® XLP™ 12F |
| 核心处理器： | PIC |
| 芯体尺寸： | 8-位 |
| 速度： | 32MHz |
| 连通性： | I²C，LIN，SPI，UART/USART |
| 外围设备： | 欠压检测/复位，POR，PWM，WDT |
| 输入/输出数： | 5 |
| 程序存储器容量： | 7KB（4K x 14） |
| 程序存储器类型： | 闪存 |
| EEPROM 大小： | 256 x 8 |
| RAM 容量： | 256 x 8 |
| 电压 - 电源 (Vcc/Vdd)： | 1.8 V ~ 3.6 V |
| 数据转换器： | A/D 4x10b |
| 振荡器型： | 内部 |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 封装/外壳： | 8-VDFN 裸露焊盘 |
| 包装： | 管件 |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页当前第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页第115页第116页第117页第118页第119页第120页第121页第122页
PIC12(L)F1840
DS41441B-page 46
Preliminary
2011 Microchip Technology Inc.
4.5
Device ID and Revision ID
The memory location 8006h is where the Device ID and
Revision ID are stored. The upper nine bits hold the
Device ID. The lower five bits hold the Revision ID. See
for more information on accessing
these memory locations.
Development tools, such as device programmers and
debuggers, may be used to read the Device ID and
Revision ID.
REGISTER 4-3:
DEVICEID: DEVICE ID REGISTER(1)
R
RRRR
RR
DEV8
DEV7
DEV6
DEV5
DEV4
DEV3
DEV2
bit 13
bit 7
R
RRRR
RR
DEV1
DEV0
REV4
REV3
REV2
REV1
REV0
bit 6
bit 0
Legend:
U = Unimplemented bit, read as ‘0’
R = Readable bit
W = Writable bit
‘0’ = Bit is cleared
-n = Value at POR
‘1’ = Bit is set
x = Bit is unknown
bit 13-5
DEV<8:0>:
Device ID bits
011011100
= PIC12F1840
011011110
= PIC12LF1840
bit 4-0
REV<4:0>:
Revision ID bits
These bits are used to identify the revision.
Note
1:
This location cannot be written.
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