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参数资料
| 型号： | SMFR-29C516ESC |
| 厂商： | TEMIC SEMICONDUCTORS |
| 元件分类： | 算术逻辑单元 |
| 英文描述： | 16-BIT ERROR DETECT AND CORRECT CKT, QFP100 |
| 封装： | MQFP-100 |
| 文件页数： | 16/42页 |
| 文件大小： | 809K |
| 代理商： | SMFR-29C516ESC |
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TABLE 2 ELECTRICAL MEASUREMENTS AT ROOM TEMPERATURE - d.c. PARAMETERS
N°
Characteristics
Symbol
Test
Method
Mil-Std-883
Test
Fig.
Test
Conditions
Limits
Unit
Note
Min
Max
1 Functional Test
VCCmin
-
3014
3(b) VDD= 4.5V
Sim1 to Sim 2
VIH=VDD, VIL=GND
-
2 Functional Test
VCCtyp.
-
3014
3(b) VDD= 5.0 V
Sim1 to Sim 2
ViH=VDD, VIL=GND
-
3 Functional Test
VCCmax
-
3014
3(b) VDD= 5.5V
Sim1 to Sim 2
VIH=VDD, VIL=GND
-
4 Low level input
current.
Pull_up inputs
IILPU
3009
4(c) VIN=GND, VDD=5.5V
-100
-
A
3
5 High level input
current
IIH
3010
4(a) VIN= VDD=5.5V
-
10
A
3
6
Output leakage
Low current
Pull Up Output
IOZLPU
4(d) Outputs disabled
Vout=GND
-100
-
A
3
7
Output leakage
High current
IOZH
4(d) Outputs disabled
Vout=VDD
-
10
A
3
8
Supply current
stand-by
IDDSB
3005
4(h) VDD=5.5V , Static mode
Output = 0 mA
20
A
3
9
Supply current
operating
IDDOP
3005
4(g) VDD=5.5V ,
Output = 0 mA, F= 10MHz
20
mA
3
10 Low level input
voltage
VIL
3013
3(b) Functional verification
-
0.8
V
1
11 High level input
voltage
VIH
3013
3(b) Functional verification
2.2
-
V
1
12 Low level Output
voltage
VOL
3007
4(e) VDD=5.5 V IOL=+12.8 mA
-
0.4
V
3
13 High level output
voltage
VOH
3006
4(f) VDD=4.5 V IOH=-12.8 mA
3.7
-
V
3
14 Input
Capacitance
CI
3012
4(i) VDD= 0V
8
pF
2
15 Output
Capacitance,
CIO
3012
4(j) VDD= 0V
12
pF
2
NOTES : See Page
25
Document number
MHS/SCC 021
Date
Issue
Page
23/12/1999
Rev C
23
Rev C
23 /42
TEMI C
Semiconductors
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PDF描述 |
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