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参数资料
| 型号： | SMFR-29C516ESC |
| 厂商： | TEMIC SEMICONDUCTORS |
| 元件分类： | 算术逻辑单元 |
| 英文描述： | 16-BIT ERROR DETECT AND CORRECT CKT, QFP100 |
| 封装： | MQFP-100 |
| 文件页数： | 18/42页 |
| 文件大小： | 809K |
| 代理商： | SMFR-29C516ESC |
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NOTES :
1]Forcing conditions of the functional test, assure that these limits are met, but they will not be individually
recorded .
2]May not be measured, but shall be guaranteed . Tested at initial design and after major process changes
3]Read & Record measurements for level B and Go/No_Go tests for level C
4]The timings correspond to :Supply voltage = 4.5V . Input Conditions are Vil = 0V , VIH = VDD timing
description figure 4(l)
Document number
MHS/SCC 021
Date
Issue
Page
23/12/1999
Rev C
25
Rev C
25 /42
TEMI C
Semiconductors
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PDF描述 |
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参数描述 |
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