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参数资料
| 型号： | SN54LVTH182514 |
| 厂商： | Texas Instruments, Inc. |
| 英文描述： | 3.3-V ABT Scan Test Device With 20-Bit Universal Bus Transceivers(3.3VABT扫描测试装置(20位通用总线收发器)) |
| 中文描述： | 的3.3V ABT生根粉扫描测试设备与20位通用总线收发器（3.3VABT扫描测试装置（20位通用总线收发器）） |
| 文件页数： | 25/34页 |
| 文件大小： | 734K |
| 代理商： | SN54LVTH182514 |
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SN54LVTH18514, SN54LVTH182514, SN74LVTH18514, SN74LVTH182514
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES
WITH 20-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
SCBS670A – AUGUST 1996 – REVISED JUNE 1997
25
POST OFFICE BOX 655303
DALLAS, TEXAS 75265
recommended operating conditions (see Note 4)
SN54LVTH18514
MIN
SN74LVTH18514
MIN
UNIT
MAX
MAX
VCC
VIH
VIL
VI
IOH
IOL
IOL
t/
v
TA
Current duty cycle
≤
50%, f
≥
1 kHz
NOTE 4: Unused control inputs must be held high or low to prevent them from floating.
Supply voltage
2.7
3.6
2.7
3.6
V
High-level input voltage
2
2
V
Low-level input voltage
0.8
0.8
V
Input voltage
5.5
5.5
V
High-level output current
–24
–32
mA
Low-level output current
24
32
mA
Low-level output current
48
64
mA
Input transition rise or fall rate
Outputs enabled
10
10
ns/V
°
C
Operating free-air temperature
–55
125
–40
85
P
相关PDF资料 |
PDF描述 |
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| SN74LVTH182514 | 3.3-V ABT Scan Test Device With 20-Bit Universal Bus Transceivers(3.3V ABT扫描测试装置(20位通用总线收发器)) |
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相关代理商/技术参数 |
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