参数资料
| 型号： | SN74ABT8952DW |
| 厂商： | Texas Instruments |
| 文件页数： | 8/31页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC |
| 标准包装： | 20 |
| 系列： | 74ABT |
| 逻辑类型： | 扫描测试设备，带寄存总线收发器 |
| 电源电压： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 位数： | 8 |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 28-SOIC |
| 包装： | 管件 |
| 产品目录页面： | 925 (CN2011-ZH PDF) |
| 其它名称： | 296-4116-5 |
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SN54ABT8952, SN74ABT8952
SCAN TEST DEVICES WITH
OCTAL REGISTERED BUS TRANSCEIVERS
SCBS121D – AUGUST 1992 – REVISED JULY 1996
16
POST OFFICE BOX 655303
DALLAS, TEXAS 75265
simultaneous PSA and PRPG (PSA/PRPG)
Data appearing at the selected device input pins is compressed into an 8-bit parallel signature in the
shift-register elements of the selected input BSCs on each rising edge of TCK. This data is updated in the
shadow latches of the selected input BSCs and applied to the inputs of the normal on-chip logic. At the same
time, an 8-bit pseudo-random pattern is generated in the shift-register elements of the selected output BSCs
on each rising edge of TCK, updated in the shadow latches, and applied to the associated device output pins
on each falling edge of TCK. Figures 8 and 9 illustrate the 8-bit linear-feedback shift-register algorithms through
which the signature and patterns are generated. An initial seed value should be scanned into the BSR before
performing this operation. A seed value of all zeroes does not produce additional patterns.
=
MASKX
A8-I
B8-O
A7-I
A6-I
A5-I
A4-I
A3-I
A2-I
A1-I
B7-O
B6-O
B5-O
B4-O
B3-O
B2-O
B1-O
Figure 8. 8-Bit PSA/PRPG Configuration (OEAB = 0, OEBA = 1)
=
MASKX
B8-I
A8-O
B7-I
B6-I
B5-I
B4-I
B3-I
B2-I
B1-I
A7-O
A6-O
A5-O
A4-O
A3-O
A2-O
A1-O
Figure 9. 8-Bit PSA/PRPG Configuration (OEAB = 1, OEBA = 0)
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| V24B48M150BL3 | CONVERTER MOD DC/DC 48V 150W |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| SN74ABT8952DWE4 | 功能描述:特定功能逻辑 Device w/Octal Rgstr Bus Transceiver RoHS:否 制造商:Texas Instruments 产品: 系列:SN74ABTH18502A 工作电源电压:5 V 封装 / 箱体:LQFP-64 封装:Tube |
| SN74ABT8952DWG4 | 功能描述:特定功能逻辑 Scan Test Devices RoHS:否 制造商:Texas Instruments 产品: 系列:SN74ABTH18502A 工作电源电压:5 V 封装 / 箱体:LQFP-64 封装:Tube |
| SN74ABT8952DWR | 功能描述:特定功能逻辑 Device w/Octal Rgstr Bus Transceiver RoHS:否 制造商:Texas Instruments 产品: 系列:SN74ABTH18502A 工作电源电压:5 V 封装 / 箱体:LQFP-64 封装:Tube |
| SN74ABT8952DWRE4 | 功能描述:特定功能逻辑 Device w/Octal Rgstr Bus Transceiver RoHS:否 制造商:Texas Instruments 产品: 系列:SN74ABTH18502A 工作电源电压:5 V 封装 / 箱体:LQFP-64 封装:Tube |
| SN74ABT8952DWRG4 | 功能描述:特定功能逻辑 Scan Test Devices RoHS:否 制造商:Texas Instruments 产品: 系列:SN74ABTH18502A 工作电源电压:5 V 封装 / 箱体:LQFP-64 封装:Tube |
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