- 您现在的位置：买卖IC网 > PDF目录373461 > SN74LVTH18516 (Texas Instruments, Inc.) 3.3-V ABT Scan Test Device With 18-Bit Universal Bus Transceivers(3.3VABT扫描测试装置(18位通用总线收发器)) PDF资料下载
参数资料
| 型号： | SN74LVTH18516 |
| 厂商： | Texas Instruments, Inc. |
| 英文描述： | 3.3-V ABT Scan Test Device With 18-Bit Universal Bus Transceivers(3.3VABT扫描测试装置(18位通用总线收发器)) |
| 中文描述： | 的3.3V ABT生根粉扫描测试设备与18位通用总线收发器（3.3VABT扫描测试装置（18位通用总线收发器）） |
| 文件页数： | 26/36页 |
| 文件大小： | 769K |
| 代理商： | SN74LVTH18516 |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页当前第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页
SN54LVTH18516, SN54LVTH182516, SN74LVTH18516, SN74LVTH182516
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES
WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
SCBS672B – AUGUST 1996 – REVISED JUNE 1997
26
POST OFFICE BOX 655303
DALLAS, TEXAS 75265
E
E
T
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
R
S
S
C
S
U
S
C
S
U
S
S
T
TCK
TMS
TDI
TDO
TAP
Controller
State
3-State (TDO) or Don’t Care (TDI)
Figure 14. Timing Example
absolute maximum ratings over operating free-air temperature range (unless otherwise noted)
Supply voltage range, V
CC
Input voltage range, V
I
(see Note 1)
Voltage range applied to any output in the high or power-off state, V
O
(see Note 1)
Current into any output in the low state, I
O
: SN54LVTH18516
–0.5 V to 4.6 V
–0.5 V to 7 V
–0.5 V to 7 V
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . .
96 mA
96 mA
30 mA
128 mA
128 mA
30 mA
48 mA
48 mA
30 mA
64 mA
64 mA
30 mA
–50 mA
–50 mA
73
°
C/W
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
SN54LVTH182516 (A port or TDO)
SN54LVTH182516 (B port)
SN74LVTH18516
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
SN74LVTH182516 (A port or TDO)
SN74LVTH182516 (B port)
. . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Current into any output in the high state, I
O
(see Note 2): SN54LVTH18516
SN54LVTH182516 (A port or TDO)
SN54LVTH182516 (B port)
SN74LVTH18516
SN74LVTH182516 (A port or TDO)
SN74LVTH182516 (B port)
. . . . . .
. . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . .
. . . . . . . . . . . . .
Input clamp current, I
IK
(V
I
< 0)
Output clamp current, I
OK
(V
O
< 0)
Package thermal impedance,
JA
(see Note 3): DGG package
Storage temperature range, T
stg
Stresses beyond those listed under “absolute maximum ratings” may cause permanent damage to the device. These are stress ratings only, and
functional operation of the device at these or any other conditions beyond those indicated under “recommended operating conditions” is not
implied. Exposure to absolute-maximum-rated conditions for extended periods may affect device reliability.
NOTES: 1. The input and output negative-voltage ratings can be exceeded if the input and output clamp-current ratings are observed.
2. This current will only flow when the output is in the high state and VO > VCC.
3. The package thermal impedance is calculated in accordance with JESD 51.
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
–65
°
C to 150
°
C
P
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| SN54LVTH182516 | 3.3-V ABT Scan Test Device With 18-Bit Universal Bus Transceivers(3.3VABT扫描测试装置(18位通用总线收发器)) |
| SN74LVTH182516 | 3.3-V ABT Scan Test Device With 18-Bit Universal Bus Transceivers(3.3V ABT扫描测试装置(18位通用总线收发器)) |
| SN54LVTH18640 | 3.3-V ABT Scan Test Device With 18-Bit Inverting Bus Transceivers(3.3V ABT 扫描检测装置(18位反相总线收发器)) |
| SN54LVTH182640 | 3.3-V ABT Scan Test Device With 18-Bit Inverting Bus Transceivers(3.3V ABT 扫描检测装置(18位反相总线收发器)) |
| SN74LVTH182640 | 3.3-V ABT Scan Test Device With 18-Bit Inverting Bus Transceivers(3.3V ABT 扫描检测装置(18位反相总线收发器)) |
相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| SN74LVTH18646APM | 功能描述:特定功能逻辑 3.3-V ABT w/18-Bit Trnscvr & Register RoHS:否 制造商:Texas Instruments 产品: 系列:SN74ABTH18502A 工作电源电压:5 V 封装 / 箱体:LQFP-64 封装:Tube |
| SN74LVTH18646APMG4 | 功能描述:特定功能逻辑 3.3-V ABT w/18-Bit Trnscvr & Register RoHS:否 制造商:Texas Instruments 产品: 系列:SN74ABTH18502A 工作电源电压:5 V 封装 / 箱体:LQFP-64 封装:Tube |
| SN74LVTH18652APM | 功能描述:特定功能逻辑 3.3-V ABT w/18-Bit Trnscvr & Register RoHS:否 制造商:Texas Instruments 产品: 系列:SN74ABTH18502A 工作电源电压:5 V 封装 / 箱体:LQFP-64 封装:Tube |
| SN74LVTH18652APMG4 | 功能描述:特定功能逻辑 3.3-V ABT w/18-Bit Trnscvr & Register RoHS:否 制造商:Texas Instruments 产品: 系列:SN74ABTH18502A 工作电源电压:5 V 封装 / 箱体:LQFP-64 封装:Tube |
| SN74LVTH2245DBR | 功能描述:总线收发器 Tri-St ABT Octal Bus RoHS:否 制造商:Fairchild Semiconductor 逻辑类型:CMOS 逻辑系列:74VCX 每芯片的通道数量:16 输入电平:CMOS 输出电平:CMOS 输出类型:3-State 高电平输出电流:- 24 mA 低电平输出电流:24 mA 传播延迟时间:6.2 ns 电源电压-最大:2.7 V, 3.6 V 电源电压-最小:1.65 V, 2.3 V 最大工作温度:+ 85 C 封装 / 箱体:TSSOP-48 封装:Reel |
发布紧急采购，3分钟左右您将得到回复。