参数资料
| 型号： | XCF32PFS48C |
| 厂商： | Xilinx Inc |
| 文件页数： | 33/35页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC PROM SRL 1.8V 32M 48CSBGA |
| 标准包装： | 108 |
| 可编程类型： | 系统内可编程 |
| 存储容量： | 32Mb |
| 电源电压： | 1.65 V ~ 2 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 封装/外壳： | 48-BFBGA，CSPBGA |
| 供应商设备封装： | 48-CSP（8x9） |
| 包装： | 托盘 |
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Platform Flash In-System Programmable Configuration PROMs
DS123 (v2.18) May 19, 2010
Product Specification
7
R
Platform Flash PROM TAP Characteristics
The Platform Flash PROM family performs both in-system
programming and IEEE 1149.1 Boundary-Scan (JTAG) testing
via a single 4-wire Test Access Port (TAP). This simplifies
system designs and allows standard Automatic Test
Equipment to perform both functions. The AC characteristics
of the Platform Flash PROM TAP are described as follows.
TAP Timing
Figure 4 shows the timing relationships of the TAP signals.
These TAP timing characteristics are identical for both
Boundary-Scan and ISP operations.
TAP AC Parameters
X-Ref Target - Figure 4
Figure 4: Test Access Port Timing
Table 9: Test Access Port Timing Parameters
Symbol
Description
Min
Max
Units
TCKMIN
TCK minimum clock period when VCCJ = 2.5V or 3.3V
67
–
ns
TMSS
TMS setup time when VCCJ = 2.5V or 3.3V
8
–
ns
TMSH
TMS hold time when VCCJ = 2.5V or 3.3V
25
–
ns
TDIS
TDI setup time when VCCJ = 2.5V or 3.3V
8
–
ns
TDIH
TDI hold time when VCCJ = 2.5V or 3.3V
25
–
ns
TDOV
TDO valid delay when VCCJ = 2.5V or 3.3V
–
22
ns
TCK
TCKMIN
TMSS
TMS
TDI
TDO
TMSH
TDIH
TDOV
TDIS
DS123_04_031808
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