参数资料
| 型号： | XE8801AMI000WP |
| 厂商： | Semtech |
| 文件页数： | 14/135页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | SENSING MACHINE WITH 16 + 10 BIT |
| 标准包装： | 558 |
| 系列： | XE880x |
| 应用： | 感测机 |
| 核心处理器： | Coolrisc816? |
| 程序存储器类型： | 闪存（22 kB） |
| 控制器系列： | XE8000 |
| RAM 容量： | 512 x 8 |
| 接口： | UART，USRT |
| 输入/输出数： | 24 |
| 电源电压： | 2.4 V ~ 5.5 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 模具 |
| 包装： | 托盘 |
| 配用： | XE8000MP-ND - PROG BOARD AND PROSTART2 CARD |
| 其它名称： | Q2722595 |
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Semtech 2005
www.semtech.com
16-25
XE8801A – SX8801R
0
20
40
60
80
-5
-4
-3
-2
-1
0
1
2
3
4
5
Output Code Deviation From Mean Value [LSB]
Oc
cur
e
nce
s
[%
o
ft
o
ta
l
samp
les
]
Figure 16-17 ADC noise (PGA1, 2 & 3 bypassed, OSR=512,NELCONV=2)
PGA1
PGA2
PGA3
ADC
GD1
GD2
GD3
V
N1
f
S
V
N2
V
N3
(a)
PGA1
PGA2
PGA3
ADC
GD1
GD2
GD3
V
N,IN
f
S
(b)
Figure 16-18 (a) Simple noise model for PGAs and ADC
and (b) total input referred noise
As an example, consider the system where: GD2 = 10 (GD1 = 1; PGA3 bypassed), OSR = 512, NELCONV = 2, VREF =
5V. In this case, the noise contribution VN1 of PGA1 is dominant over that of PGA2. Using equation Eq. 21, we get:
VN,IN = 6.4V (rms) at the input of the acquisition chain, or, equivalently, 0.85 LSB at the output of the ADC.
Considering a 0.2V (rms) maximum signal amplitude, the signal-to-noise ratio is 90dB.
Noise can also be reduced by implementing a software filter. By making an average on a number of subsequent
measurements, the apparent noise is reduced the square root of the number of measurement used to make the
average.
16.8.5
Gain Error and Offset Error
Gain error is defined as the amount of deviation between the ideal transfer function (theoretical equation Eq. 18) and
the measured transfer function (with the offset error removed).
The actual gain of the different stages can vary depending on the fabrication tolerances of the different elements.
Although these tolerances are specified to a maximum of
±3%, they will be most of the time around ±0.5%.
Moreover, the tolerances between the different stages are not correlated and the probability to get the maximal error
in the same direction in all stages is very low. Finally, these gain errors can be calibrated by the software at the same
time with the gain errors of the sensor for instance.
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