参数资料
| 型号： | APA150-FGG256 |
| 厂商： | Microsemi SoC |
| 文件页数： | 90/178页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC FPGA PROASIC+ 150K 256-FBGA |
| 标准包装： | 90 |
| 系列： | ProASICPLUS |
| RAM 位总计： | 36864 |
| 输入/输出数： | 186 |
| 门数： | 150000 |
| 电源电压： | 2.3 V ~ 2.7 V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 封装/外壳： | 256-LBGA |
| 供应商设备封装： | 256-FPBGA（17x17） |
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ProASICPLUS Flash Family FPGAs
v5.9
2-9
The TAP controller receives two control inputs (TMS and
TCK) and generates control and clock signals for the rest
of the test logic architecture. On power-up, the TAP
controller enters the Test-Logic-Reset state. To guarantee
a reset of the controller from any of the possible states,
TMS must remain high for five TCK cycles. The TRST pin
may also be used to asynchronously place the TAP
controller in the Test-Logic-Reset state.
ProASICPLUS devices support three types of test data
registers: bypass, device identification, and boundary
scan. The bypass register is selected when no other
register needs to be accessed in a device. This speeds up
test data transfer to other devices in a test data path.
The 32-bit device identification register is a shift register
with four fields (lowest significant byte (LSB), ID number,
part number and version). The boundary-scan register
observes and controls the state of each I/O pin.
Each I/O cell has three boundary-scan register cells, each
with a serial-in, serial-out, parallel-in, and parallel-out
pin. The serial pins are used to serially connect all the
boundary-scan register cells in a device into a boundary-
scan register chain, which starts at the TDI pin and ends
at the TDO pin. The parallel ports are connected to the
internal core logic tile and the input, output, and control
ports of an I/O buffer to capture and load data into the
register to control or observe the logic state of each I/O.
Figure 2-10 TAP Controller State Diagram
Test-Logic
Reset
Run-Test/
Idle
Select-DR-
Scan
Capture-DR
Shift-DR
Exit-DR
Pause-DR
Exit2-DR
Update-DR
Select-IR-
Scan
Capture-IR
Shift-IR
Exit-IR
Pause-IR
Exit2-IR
Update-IR
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参数描述 |
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| APA150-FGG256I | 功能描述:IC FPGA PROASIC+ 150K 256-FBGA RoHS:是 类别:集成电路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（现场可编程门阵列） 系列:ProASICPLUS 标准包装:40 系列:SX-A LAB/CLB数:6036 逻辑元件/单元数:- RAM 位总计:- 输入/输出数:360 门数:108000 电源电压:2.25 V ~ 5.25 V 安装类型:表面贴装 工作温度:0°C ~ 70°C 封装/外壳:484-BGA 供应商设备封装:484-FPBGA（27X27） |
| APA150-FGGB | 制造商:ACTEL 制造商全称:Actel Corporation 功能描述:ProASIC Flash Family FPGAs |
| APA150-FGGES | 制造商:ACTEL 制造商全称:Actel Corporation 功能描述:ProASIC Flash Family FPGAs |
| APA150-FGGI | 制造商:ACTEL 制造商全称:Actel Corporation 功能描述:ProASIC Flash Family FPGAs |
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