参数资料
型号: DS2045W-100#
厂商: Maxim Integrated
文件页数: 3/12页
文件大小: 0K
描述: IC NVSRAM 1MBIT 100NS 256BGA
标准包装: 1
格式 - 存储器: RAM
存储器类型: NVSRAM(非易失 SRAM)
存储容量: 1M (128K x 8)
速度: 100ns
接口: 并联
电源电压: 3 V ~ 3.6 V
工作温度: -40°C ~ 85°C
封装/外壳: 256-BBGA
供应商设备封装: 256-BGA(27x27)
包装: 托盘
DS2045W 3.3V Single-Piece 1Mb
Nonvolatile SRAM
AC ELECTRICAL CHARACTERISTICS
(V CC = 3.3V ±0.3V, T A = -40 ° C to +85 ° C.)
PARAMETER
Read Cycle Time
Access Time
OE to Output Valid
CE to Output Valid
OE or CE to Output Active
Output High Impedance from
Deselection
Output Hold from Address Change
Write Cycle Time
Write Pulse Width
Address Setup Time
Write Recovery Time
Output High Impedance from WE
Output Active from WE
Data Setup Time
Data Hold Time
SYMBOL
t RC
t ACC
t OE
t CO
t COE
t OD
t OH
t WC
t WP
t AW
t WR1
t WR2
t ODW
t OEW
t DS
t DH1
t DH2
(Note 2)
(Note 2)
(Note 3)
(Note 4)
(Note 5)
(Note 2)
(Note 2)
(Note 6)
(Note 4)
(Note 5)
CONDITIONS
DS2045W-100
MIN MAX
100
100
50
100
5
35
5
100
75
0
5
20
35
5
40
0
20
UNITS
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
POWER-DOWN/POWER-UP TIMING
(T A = -40 ° C to +85 ° C)
PARAMETER
V CC Fail Detect to CE and WE Inactive
SYMBOL
t PD
CONDITIONS
(Note 7)
MIN
TYP
MAX
1.5
UNITS
μs
V CC Slew from V TP to 0V
V CC Slew from 0V to V TP
V CC Valid to CE and WE Inactive
V CC Valid to End of Write Protection
t F
t R
t PU
t REC
150
150
2
125
μs
μs
ms
ms
V CC Fail Detect to RST Active
t RPD
(Note 1)
3.0
μs
V CC Valid to RST Inactive
t RPU
(Note 1)
225
350
525
ms
DATA RETENTION
(T A = +25 ° C.)
PARAMETER
Expected Data-Retention Time (Per Charge)
SYMBOL
t DR
CONDITIONS
(Note 8)
MIN
2
TYP
3
MAX
UNITS
years
AC TEST CONDITIONS
Input Pulse Levels:
Input Pulse Rise and Fall Times:
Input and Output Timing Reference Level:
Output Load:
V IL = 0.0V, V IH = 2.7V
5ns
1.5V
1 TTL Gate + C L (100pF) including scope and jig
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