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参数资料
| 型号： | DS21552LN+ |
| 厂商： | Maxim Integrated Products |
| 文件页数： | 136/137页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC TXRX T1 1-CHIP 5V 100-LQFP |
| 产品培训模块： | Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program |
| 标准包装： | 90 |
| 功能： | 单芯片收发器 |
| 接口： | E1，HDLC，J1，T1 |
| 电路数： | 1 |
| 电源电压： | 4.75 V ~ 5.25 V |
| 电流 - 电源： | 75mA |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 100-LQFP |
| 供应商设备封装： | 100-LQFP（14x14） |
| 包装： | 托盘 |
| 包括： | DSX-1 和 CSU 线路补偿发生器，HDLC 控制器，带内回路代码发生器和检测器 |
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DS21352/DS21552
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The DS21352/552 are enhanced versions of the DS2152 and are backward pin-compatible. The JTAG
feature uses pins that had no function in the DS2152. When using the JTAG feature, be sure FMS (pin
76) is tied LOW enabling the newly defined pins of the DS21352/552.
Details on Boundary Scan
Architecture and the Test Access Port can be found in IEEE 1149.1-1990, IEEE 1149.1a-1993, and IEEE
1149.1b-1994.
The Test Access Port has the necessary interface pins; JTRST, JTCLK, JTMS, JTDI, and JTDO. See the
pin descriptions for details.
Figure 19-1 JTAG FUNCTIONAL BLOCK DIAGRAM
+V
Boundary Scan
Register
Identification
Register
Bypass
Register
Instruction
Register
JTDI
JTMS
JTCLK
JTRST
JTDO
+V
Test Access Port
Controller
MUX
10K
Select
Output Enable
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