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参数资料
| 型号： | EP2S30F672I4N |
| 厂商： | Altera |
| 文件页数： | 676/768页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC STRATIX II FPGA 30K 672-FBGA |
| 产品培训模块： | Three Reasons to Use FPGA's in Industrial Designs |
| 标准包装： | 10 |
| 系列： | Stratix® II |
| LAB/CLB数： | 1694 |
| 逻辑元件/单元数： | 33880 |
| RAM 位总计： | 1369728 |
| 输入/输出数： | 500 |
| 电源电压： | 1.15 V ~ 1.25 V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 工作温度： | -40°C ~ 100°C |
| 封装/外壳： | 672-BBGA |
| 供应商设备封装： | 672-BGA（27x27） |
| 其它名称： | 544-1900 EP2S30F672I4N-ND |
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Altera Corporation
9–15
January 2008
Stratix II Device Handbook, Volume 2
IEEE 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Testing for Stratix II and Stratix II GX Devices
EXTEST
selects data differently than SAMPLE/PRELOAD. EXTEST chooses
data from the update registers as the source of the output and output
enable signals. Once the EXTEST instruction code is entered, the
multiplexers select the update register data. Thus, data stored in these
registers from a previous EXTEST or SAMPLE/PRELOAD test cycle can be
forced onto the pin signals. In the capture phase, the results of this test
data are stored in the capture registers and then shifted out of TDO during
the shift phase. New test data can then be stored in the update registers
during the update phase.
The EXTEST waveform diagram in Figure 9–11 resembles the
SAMPLE/PRELOAD
waveform diagram, except for the instruction code.
The data shifted out of TDO consists of the data that was present in the
capture registers after the capture phase. New test data shifted into the
TDI
pin appears at the TDO pin after being clocked through the entire
boundary-scan register.
Figure 9–11. EXTEST Shift Data Register Waveforms
BYPASS Instruction Mode
The BYPASS mode is activated when an instruction code of all ones is
loaded in the instruction register. The waveforms in Figure 9–12 show
how scan data passes through a device once the TAP controller is in the
SHIFT_DR
state. In this state, data signals are clocked into the bypass
register from TDI on the rising edge of TCK and out of TDO on the falling
edge of the same clock pulse.
Data stored in
boundary-scan
register is shifted
out of TDO.
After boundary-scan
register data has been
shifted out, data
entered into TDI will
shift out of TDO.
UPDATE_IR
SHIFT_DR
EXIT1_DR
SELECT_DR
CAPTURE_DR
EXIT1_IR
UPDATE_DR
SHIFT_IR
Instruction Code
TCK
TMS
TDI
TDO
TAP_STATE
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PDF描述 |
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参数描述 |
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