参数资料
型号: FDD6637
厂商: Fairchild Semiconductor
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文件大小: 0K
描述: MOSFET P-CH 35V 13A DPAK
产品目录绘图: DPAK, TO-252(AA)
标准包装: 1
系列: PowerTrench®
FET 型: MOSFET P 通道,金属氧化物
FET 特点: 逻辑电平门
漏极至源极电压(Vdss): 35V
电流 - 连续漏极(Id) @ 25° C: 13A
开态Rds(最大)@ Id, Vgs @ 25° C: 11.6 毫欧 @ 14A,10V
Id 时的 Vgs(th)(最大): 3V @ 250µA
闸电荷(Qg) @ Vgs: 63nC @ 10V
输入电容 (Ciss) @ Vds: 2370pF @ 20V
功率 - 最大: 1.3W
安装类型: 表面贴装
封装/外壳: TO-252-3,DPak(2 引线+接片),SC-63
供应商设备封装: TO-252
包装: 标准包装
产品目录页面: 1606 (CN2011-ZH PDF)
其它名称: FDD6637DKR
Test Circuits and Waveforms
V DS
L
BV DSS
V G
R GEN
DUT
-
V DD
I AS
t P
V DS
V DD
0V
+
V GS tp
vary t P to obtain
required peak I AS
I AS
0.01 ?
t AV
Figure 14. Unclamped Inductive Load Test
Circuit
Drain Current Regulator
Same type as DUT
Figure 15. Unclamped Inductive Waveforms
-
10V
50k ?
10V
Q G
+
10 μ F
1 μ F
-
+
V DD
V GS
Q GS
Q GD
V G
DUT
I g(REF)
Figure 16. Gate Charge Test Circuit
Charge, (nC)
Figure 17. Gate Charge Waveform
V DS
R L
t ON
t d(ON)
t OFF
t d(OFF)
R GEN
V GS
DUT
-
V DD
+
V DS
90%
t r
t f
90%
V GS
Pulse Width ≤ 1 μ s
Duty Cycle ≤ 0.1 %
0V
V GS
0V
10%
10%
50%
Pulse Width
90%
50%
10%
Figure 18. Switching Time Test Circuit
FDD6637 Rev. C2(W)
Figure 19. Switching Time Waveforms
www.fairchildsemi.com
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