参数资料
型号: FQA7N80C_F109
厂商: Fairchild Semiconductor
文件页数: 4/8页
文件大小: 0K
描述: MOSFET N-CH 800V 7A TO-3P
产品变化通告: Design/Process Change Notification 26/June/2007
标准包装: 30
系列: QFET™
FET 型: MOSFET N 通道,金属氧化物
FET 特点: 标准
漏极至源极电压(Vdss): 800V
电流 - 连续漏极(Id) @ 25° C: 7A
开态Rds(最大)@ Id, Vgs @ 25° C: 1.9 欧姆 @ 3.5A,10V
Id 时的 Vgs(th)(最大): 5V @ 250µA
闸电荷(Qg) @ Vgs: 35nC @ 10V
输入电容 (Ciss) @ Vds: 1680pF @ 25V
功率 - 最大: 198W
安装类型: 通孔
封装/外壳: TO-3P-3,SC-65-3
供应商设备封装: TO-3PN
包装: 管件
Typical Performance Characteristics
Figure 7. Breakdown Voltage Variation
vs. Temperature
1.2
(Continued)
Figure 8. On-Resistance Variation
vs. Temperature
3.0
2.5
1.1
2.0
1.0
1.5
1.0
0.9
※ Notes :
1. V GS = 0 V
2. I D = 250 μA
0.5
※ Notes :
1. V GS = 10 V
2. I D = 3.3 A
0.8
-100
-50
0
50
100
150
200
0.0
-100
-50
0
50
100
150
200
T J , Junction Temperature [ C]
T J , Junction Temperature [ C]
o
Figure 9. Maximum Safe Operating Area
o
Figure 10. Maximum Drain Current
vs. Case Temperature
8
10
2
Operation in This Area
is Limited by R DS(on)
10 μ s
10
1
100 μ s
1 ms
6
10
10
1. T C = 25 C
2. T J = 150 C
0
-1
※ Notes :
o
o
3. Single Pulse
DC
10 ms
4
2
10
10
10
10
10
-2
0
1 2
V DS , Drain-Source Voltage [V]
3
0
25
50
75 100
T C , Case Temperature [ ℃ ]
125
150
Figure 11. Transient Thermal Response Curve
10
0
D = 0 .5
10
-1
0 .2
0 .1
※ N o te s :
1 . Z θ J C (t) = 0 .6 3 ℃ /W M a x .
2 . D u ty F a c to r, D = t 1 /t 2
3 . T J M - T C = P D M * Z θ J C (t)
10
-2
0 .0 5
0 .0 2
0 .0 1
s in g le p u ls e
P DM
t 1
t 2
10
-5
10
- 4
10
- 3
10
- 2
10
- 1
10
0
10
1
t 1 , S q u a re W a v e P u ls e D u ra tio n [s e c ]
?2007 Fairchild Semiconductor Corporation
FQA7N80C_F109 Rev C1
4
www.fairchildsemi.com
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