参数资料
型号: FQN1N60CBU
厂商: Fairchild Semiconductor
文件页数: 3/8页
文件大小: 0K
描述: MOSFET N-CH 600V 0.3A TO-92
标准包装: 1,000
系列: QFET™
FET 型: MOSFET N 通道,金属氧化物
FET 特点: 标准
漏极至源极电压(Vdss): 600V
电流 - 连续漏极(Id) @ 25° C: 300mA
开态Rds(最大)@ Id, Vgs @ 25° C: 11.5 欧姆 @ 150mA,10V
Id 时的 Vgs(th)(最大): 4V @ 250µA
闸电荷(Qg) @ Vgs: 6.2nC @ 10V
输入电容 (Ciss) @ Vds: 170pF @ 25V
功率 - 最大: 1W
安装类型: 通孔
封装/外壳: TO-226-3、TO-92-3 标准主体
供应商设备封装: TO-92-3
包装: 散装
Typical Performance Characteristics
Figure 1. On-Region Characteristics
Figure 2. Transfer Characteristics
10
V GS
10
150 C
-55 C
0
Top : 15.0 V
10.0 V
8.0 V
7.0 V
6.5 V
6.0 V
5.5 V
5.0 V
Bottom : 4.5 V
0
o
o
10
25 C
-1
o
10
10
10
10
10
-2
-1
0 1
V DS , Drain-Source Voltage [V]
※ Notes :
1. 250μ s Pulse Test
2. T C = 25 ℃
-1
2
4
※ Notes :
1. V DS = 40V
2. 250μ s Pulse Test
6 8
V GS , Gate-Source Voltage [V]
10
Figure 3. On-Resistance Variation vs.
Drain Current and Gate Voltage
30
25
V GS = 10V
Figure 4. Body Diode Forward Voltage
Variation vs. Source Current
and Temperatue
20
15
10
V GS = 20V
10
0
150 ℃
5
※ Note : T J = 25 ℃
25 ℃
※ Notes :
1. V GS = 0V
2. 250 μ s Pulse Test
0
0. 0
0.5
1.0
1.5
2. 0
2.5
10
-1
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
1.2
1.4
I D , Drain Current [A]
Figure 5. Capacitance Characteristics
V SD , Source-Drain voltage [V]
Figure 6. Gate Charge Characteristics
250
200
150
C iss
C oss
C iss = C gs + C gd (C ds = shorted)
C os s = C ds + C gd
C rs s = C gd
12
10
8
6
V DS = 120V
V DS = 300V
V DS = 480V
100
50
C rss
※ Notes ;
1. V GS = 0 V
2. f = 1 MHz
4
2
※ Note : I D = 1.1A
10
10
10
0
-1
0 1
V DS , Drain-Source Voltage [V]
0
0
1
2 3 4
Q G , Total Gate Charge [nC]
5
6
?200 5 Fairchild Semiconductor Corporation
FQN1N60C Rev C 1
3
www.fairchildsemi.com
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PDF描述
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