参数资料
型号: FQN1N60CBU
厂商: Fairchild Semiconductor
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文件大小: 0K
描述: MOSFET N-CH 600V 0.3A TO-92
标准包装: 1,000
系列: QFET™
FET 型: MOSFET N 通道,金属氧化物
FET 特点: 标准
漏极至源极电压(Vdss): 600V
电流 - 连续漏极(Id) @ 25° C: 300mA
开态Rds(最大)@ Id, Vgs @ 25° C: 11.5 欧姆 @ 150mA,10V
Id 时的 Vgs(th)(最大): 4V @ 250µA
闸电荷(Qg) @ Vgs: 6.2nC @ 10V
输入电容 (Ciss) @ Vds: 170pF @ 25V
功率 - 最大: 1W
安装类型: 通孔
封装/外壳: TO-226-3、TO-92-3 标准主体
供应商设备封装: TO-92-3
包装: 散装
12V
200nF
50K Ω
300nF
Samee T y pe
as DUT
V GS
10V
Q g
IG = const.
V GS
DUT
V DS
Q gs
Q gd
Char rge
Figure 12. Gate Charge Test Circuit & Waveform
V GS
R G
V GS
V DS
R L
DUT
V DD
V DS
V GS
90%
10%
on)
t d(on )
t on
t r
t d(oof f )
t ofofff
t f
Figure 13. Resistive Switching Test Circuit & Waveforms
BV DSS
E AS = -- -- L I AS 2 --------------------
2 BV DS S - V DD
R G
V DS
I D
L
V DD
BV DSS
I AS
1
I D (t)
DSS
V GS
t p
DUT
V DD
t p
me
Tim
V DS (t)
Figure 14. Unclamped Inductive Switching Test Circuit & Waveforms
?200 5 Fairchild Semiconductor Corporation
FQN1N60C Rev C 1
5
www.fairchildsemi.com
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PDF描述
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