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参数资料
| 型号： | GS8324Z36B-150IT |
| 厂商： | GSI TECHNOLOGY |
| 元件分类： | SRAM |
| 英文描述： | 1M X 36 ZBT SRAM, 10 ns, PBGA119 |
| 封装： | 14 X 22 MM, 1.27 MM PITCH, BGA-119 |
| 文件页数： | 32/46页 |
| 文件大小： | 1157K |
| 代理商： | GS8324Z36B-150IT |
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Rev: 1.00 10/2001
38/46
2001, Giga Semiconductor, Inc.
Specifications cited are subject to change without notice. For latest documentation see http://www.gsitechnology.com.
Preliminary
GS8324Z18(B/C)/GS8324Z36(B/C)/GS8324Z72(C)
JTAG Port Recommended Operating Conditions and DC Characteristics
Parameter
Symbol
Min.
Max.
Unit Notes
3.3 V Test Port Input High Voltage
VIHJ3
2.0
VDD3 +0.3
V
1
3.3 V Test Port Input Low Voltage
VILJ3
–
0.3
0.8
V
1
2.5 V Test Port Input High Voltage
VIHJ2
0.6 * VDD2
VDD2 +0.3
V
1
2.5 V Test Port Input Low Voltage
VILJ2
–
0.3
0.3 * VDD2
V
1
TMS, TCK and TDI Input Leakage Current
IINHJ
–
300
1
uA
2
TMS, TCK and TDI Input Leakage Current
IINLJ
–
1
100
uA
3
TDO Output Leakage Current
IOLJ
–
1
uA
4
Test Port Output High Voltage
VOHJ
1.7
—
V
5, 6
Test Port Output Low Voltage
VOLJ
—
0.4
V
5, 7
Test Port Output CMOS High
VOHJC
VDDQ – 100 mV
—
V
5, 8
Test Port Output CMOS Low
VOLJC
—
100 mV
V
5, 9
Notes:
1. Input Under/overshoot voltage must be –2 V > Vi < VDDn +2 V not to exceed 4.6 V maximum, with a pulse width not to exceed 20% tTKC.
2. VILJ ≤ VIN ≤ VDDn
3. 0 V
≤ V
IN ≤ V
ILJn
4. Output Disable, VOUT = 0 to VDDn
5. The TDO output driver is served by the VDDQ supply.
6. IOHJ = –4 mA
7. IOLJ = + 4 mA
8. IOHJC = –100 uA
9. IOHJC = +100 uA
Notes:
1. Include scope and jig capacitance.
2. Test conditions as as shown unless otherwise noted.
JTAG Port AC Test Conditions
Parameter
Conditions
Input high level
2.3 V
Input low level
0.2 V
Input slew rate
1 V/ns
Input reference level
1.25 V
Output reference level
1.25 V
DQ
VT = 1.25 V
50
30pF*
JTAG Port AC Test Load
* Distributed Test Jig Capacitance
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PDF描述 |
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