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参数资料
| 型号： | HY5PS1G421M-E3 |
| 厂商： | HYNIX SEMICONDUCTOR INC |
| 元件分类： | DRAM |
| 英文描述： | 1Gb DDR2 SDRAM(DDP) |
| 中文描述： | 256M X 4 DDR DRAM, 0.6 ns, PBGA63 |
| 封装： | FBGA-63 |
| 文件页数： | 76/79页 |
| 文件大小： | 1109K |
| 代理商： | HY5PS1G421M-E3 |
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Rev. 0.2 / Oct. 2005
76
1
HY5PS12421(L)M
HY5PS12821(L)M
VREF. In differential mode, these timing relationships are measured relative to the crosspoint of DQS and
its complement, DQS. This distinction in timing methods is guaranteed by design and characterization.
Note that when differential data strobe mode is disabled via the EMRS, the complementary pin, DQS, must
be tied externally to VSS through a 20 ohm to 10 K ohm resistor to insure proper operation.
5. AC timings are for linear signal transitions. See System Derating for other signal transitions.
6. These parameters guarantee device behavior, but they are not necessarily tested on each device. They
may be guaranteed by device design or tester correlation.
7. All voltages referenced to VSS.
8. Tests for AC timing, IDD, and electrical (AC and DC) characteristics, may be conducted at nominal refer-
ence/supply voltage levels, but the related specifications and device operation are guaranteed for the full
voltage range specified.
t
DS
t
DS
t
DH
t
WPRE
t
WPST
t
DQSH
t
DQSL
DQS
DQS
D
DMin
DQS/
DQS
DQ
DM
t
DH
Figure -- Data input (write) timing
DMin
DMin
DMin
D
D
D
t
CH
t
CL
CK
CK
CK/CK
DQS/DQS
DQ
DQS
DQS
t
RPST
Q
t
RPRE
t
DQSQmax
t
QH
t
QH
t
DQSQmax
Figure -- Data output (read) timing
Q
Q
Q
相关PDF资料 |
PDF描述 |
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