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参数资料
| 型号： | M28W640ECT70ZB6T |
| 厂商： | STMICROELECTRONICS |
| 元件分类： | PROM |
| 英文描述： | 4M X 16 FLASH 3V PROM, 70 ns, PBGA48 |
| 封装： | 6.39 X 10.50 MM, 0.75 MM PITCH, TFBGA-48 |
| 文件页数： | 33/54页 |
| 文件大小： | 957K |
| 代理商： | M28W640ECT70ZB6T |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页当前第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页
39/54
M28W640ECT, M28W640ECB
Table 28. CFI Query System Interface Information
Offset
Data
Description
Value
1Bh
0027h
VDD Logic Supply Minimum Program/Erase or Write voltage
bit 7 to 4BCD value in volts
bit 3 to 0BCD value in 100 mV
2.7V
1Ch
0036h
VDD Logic Supply Maximum Program/Erase or Write voltage
bit 7 to 4BCD value in volts
bit 3 to 0BCD value in 100 mV
3.6V
1Dh
00B4h
VPP [Programming] Supply Minimum Program/Erase voltage
bit 7 to 4HEX value in volts
bit 3 to 0BCD value in 100 mV
11.4V
1Eh
00C6h
VPP [Programming] Supply Maximum Program/Erase voltage
bit 7 to 4HEX value in volts
bit 3 to 0BCD value in 100 mV
12.6V
1Fh
0004h
Typical time-out per single word program = 2n s
16s
20h
0004h
Typical time-out for Double/Quadruple Word Program = 2n s
16s
21h
000Ah
Typical time-out per individual block erase = 2n ms
1s
22h
0000h
Typical time-out for full chip erase = 2n ms
NA
23h
0005h
Maximum time-out for Word program = 2n times typical
512s
24h
0005h
Maximum time-out for Double/Quadruple Word Program = 2n times typical
512s
25h
0003h
Maximum time-out per individual block erase = 2n times typical
8s
26h
0000h
Maximum time-out for chip erase = 2n times typical
NA
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PDF描述 |
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