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参数资料
| 型号： | M29W800B |
| 厂商： | 意法半导体 |
| 英文描述： | 8Mbit (1Mb x8 or 512Kb x16, Boot Block) Low Voltage Single Supply Flash Memory(8Mb低压闪速存储器) |
| 中文描述： | 8Mbit（1兆x8或512KB的x16插槽，引导块）低电压单电源闪存（8兆低压闪速存储器） |
| 文件页数： | 15/33页 |
| 文件大小： | 229K |
| 代理商： | M29W800B |
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Symbol
Parameter
TestCondition
Min
Max
Unit
C
IN
Input Capacitance
V
IN
= 0V
6
pF
C
OUT
Output Capacitance
V
OUT
= 0V
12
pF
Note:
1. Sampled only,not 100% tested.
Table12. Capacitance
(1)
(T
A
= 25
°
C, f = 1 MHz)
AI01417
3V
0V
1.5V
Figure 4. AC TestingInput Output Waveform
AI01968
0.8V
OUT
CL= 30pF or 100pF
CLincludes JIG capacitance
3.3k
1N914
DEVICE
UNDER
TEST
Figure 5. AC Testing Load Circuit
Input Rise and Fall Times
≤
10ns
Input Pulse Voltages
0 to 3V
Input and Output Timing Ref. Voltages
1.5V
Table11. ACMeasurementConditions
Symbol
Parameter
Test Condition
Min
Max
Unit
I
LI
Input Leakage Current
0V
≤
V
IN
≤
V
CC
±
1
μ
A
I
LO
Output Leakage Current
0V
≤
V
OUT
≤
V
CC
±
1
μ
A
I
CC1
Supply Current (Read) Byte
E = V
IL
, G = V
IH
, f = 6MHz
10
mA
I
CC1
Supply Current (Read) Word
E = V
IL
, G = V
IH
, f = 6MHz
10
mA
I
CC3
Supply Current (Standby)
E = V
CC
±
0.2V
100
μ
A
I
CC4(1)
Supply Current (Program or Erase)
Byte program, Block or
Chip Erase in progress
20
mA
V
IL
Input Low Voltage
–0.5
0.8
V
V
IH
Input High Voltage
0.7 V
CC
V
CC
+ 0.3
V
V
OL
Output Low Voltage
I
OL
= 1.8mA
0.45
V
V
OH
Output High Voltage CMOS
I
OH
= –100
μ
A
V
CC
–0.4V
V
V
ID
A9 Voltage (Electronic Signature)
11.5
12.5
V
I
ID
A9 Current (Electronic Signature)
A9 = V
ID
100
μ
A
V
LKO
Supply Voltage(Erase and
Program lock-out)
2.0
2.3
V
Note:
1. Sampled only,not 100% tested.
Table13. DC Characteristics
(T
A
= 0 to 70
°
C, –20 to 85
°
C or–40 to 85
°
C; V
CC
= 2.7Vto 3.6V)
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M29W800T M29W800B
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| M29W800DB45ZE6F TR | 制造商:Micron Technology Inc 功能描述:IC FLASH 8MBIT 45NS 48TFBGA |
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