参数资料
| 型号： | NUP1301,215 |
| 厂商： | NXP Semiconductors |
| 文件页数： | 7/13页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC DIODE ARRAY ESD SOT23-3 |
| 标准包装： | 1 |
| 电压 - 反向隔离（标准值）： | 80V |
| 电压 - 击穿： | 100V |
| 功率（瓦特）： | 220W |
| 电极标记： | 2 通道阵列 - 单向 |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | TO-236-3，SC-59，SOT-23-3 |
| 供应商设备封装： | SOT-23-3 |
| 包装： | 标准包装 |
| 其它名称： | 568-6351-6 |
NXP Semiconductors
ESD TESTER
NUP1301
Ultra low capacitance ESD protection array
4 GHz DIGITAL
acc. to IEC 61000-4-2
C Z = 150 pF; R Z = 330 ?
RZ
450 ?
RG 223/U
50 ? coax
10 ×
OSCILLOSCOPE
ATTENUATOR
CZ
DUT
(DEVICE
UNDER
TEST)
50 ?
GND
GND
vertical scale = 10 A/div
horizontal scale = 15 ns/div
unclamped +8 kV ESD pulse waveform
(IEC 61000-4-2 network)
vertical scale = 10 A/div
horizontal scale = 15 ns/div
unclamped ? 8 kV ESD pulse waveform
GND
GND
vertical scale = 10 V/div
horizontal scale = 15 ns/div
clamped +8 kV ESD pulse waveform
(IEC 61000-4-2 network), pin 3 to 1 and 2
vertical scale = 10 V/div
horizontal scale = 15 ns/div
clamped ? 8 kV ESD pulse waveform
(IEC 61000-4-2 network)
(IEC 61000-4-2 network), pin 3 to 1 and 2
006aab567
Fig 7.
NUP1301_1
ESD clamping test setup and waveforms
? NXP B.V. 2009. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 01 — 11 May 2009
7 of 13
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
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