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参数资料
| 型号： | SIO10N268-NU |
| 厂商： | STANDARD MICROSYSTEMS CORP |
| 元件分类： | 外设及接口 |
| 英文描述： | MULTIFUNCTION PERIPHERAL, PQFP128 |
| 封装： | 14 X 14 MM, 1MM THICKNESS, GREEN, TQFP-128 |
| 文件页数： | 163/251页 |
| 文件大小： | 1384K |
| 代理商： | SIO10N268-NU |
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Advanced Notebook I/O for ISA or LPC Designs
Datasheet
SMSC SIO10N268
Page 247
Rev. 0.5 (03-24-05)
DATASHEET
Chapter 13 XNOR-Chain Test Mode
The SIO10N268 provides board test capability through the implementation of XNOR chain. See following
sub-sections.
XNOR-Chain test structure allows users to confirm that all pins are in contact with the motherboard during
assembly and test operations. See Figure 13.1 below. When the chip is in the XNOR chain test mode,
setting the state of any of the input pins to the opposite of its current state will cause the output of the chain
to toggle.
The XNOR-Chain test structure must be activated to perform these tests. When the XNOR-Chain is
activated, the SIO10N268 pin functions are disconnected from the device pins, which all become input pins
except for one output pin at the end of XNOR-Chain.
The tests that are performed when the XNOR-Chain test structure is activated require the board-level test
hardware to control the device pins and observe the results at the XNOR-Chain output pin.
I/O#1
I/O#2
I/O#3
I/O#n
XNor
Out
Figure 13.1 – XNOR-Chain Test Structure
13.1
Entering and Exiting Test Mode
To place a device into Test Mode, procedures should be followed according to the state of the LPC_ISA
pin. That means if the LPC_ISA pin is left unconnected or is grounded, the device should be put into test
mode using the procedures for LPC Mode. If the LPC_ISA pin is tied to VCC, the device should be put
into test mode using the procedures for ISA Mode.
XNOR-Chain test mode can be entered as follows:
Devices configured for LPC Mode (default – LPC_ISA pin is unconnected or tied to ground):
- On the rising (deasserting) edge of PCI_RESET#, drive LFRAME# low and drive LAD[0] low.
Devices configured for ISA Mode (LPC_ISA pin is tied to VCC):
- On the falling (deasserting) edge of RESET_DRV, drive nIORD low and drive nIOWR low.
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| SIS300 | GRAPHICS PROCESSOR, PBGA365 |
| SK12430PJT | 800 MHz, OTHER CLOCK GENERATOR, PQCC28 |
| SK12439PJ | 800 MHz, OTHER CLOCK GENERATOR, PQCC28 |
| SK12439PJT | 800 MHz, OTHER CLOCK GENERATOR, PQCC28 |
| SL15100ZIT-XXX | 200 MHz, OTHER CLOCK GENERATOR, PDSO8 |
相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| SIO665GT | 功能描述:界面开发工具 Evaluation Board RoHS:否 制造商:Bourns 产品:Evaluation Boards 类型:RS-485 工具用于评估:ADM3485E 接口类型:RS-485 工作电源电压:3.3 V |
| SIO666GT | 功能描述:界面开发工具 Evaluation Board RoHS:否 制造商:Bourns 产品:Evaluation Boards 类型:RS-485 工具用于评估:ADM3485E 接口类型:RS-485 工作电源电压:3.3 V |
| SIO669 | 功能描述:界面开发工具 Evaluation Board RoHS:否 制造商:Bourns 产品:Evaluation Boards 类型:RS-485 工具用于评估:ADM3485E 接口类型:RS-485 工作电源电压:3.3 V |
| SIOLS1000V2 | 制造商:SECELECTRONICS 制造商全称:SECELECTRONICS 功能描述:Current Sensors |
| SIOLS2000V2 | 制造商:SECELECTRONICS 制造商全称:SECELECTRONICS 功能描述:Current Sensors |
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