参数资料
型号: SST29LE512-150-4I-EHE
厂商: SILICON STORAGE TECHNOLOGY INC
元件分类: PROM
英文描述: 64K X 8 FLASH 3V PROM, 150 ns, PDSO32
封装: 8 X 20 MM, MO-142BD, TSOP1-32
文件页数: 10/28页
文件大小: 348K
代理商: SST29LE512-150-4I-EHE
18
Data Sheet
512 Kbit Page-Write EEPROM
SST29EE512 / SST29LE512 / SST29VE512
2003 Silicon Storage Technology, Inc.
S71060-08-000
11/03 301
FIGURE 13: AC INPUT/OUTPUT REFERENCE WAVEFORMS
FIGURE 14: A TEST LOAD EXAMPLE
301 ILL F12.1
REFERENCE POINTS
OUTPUT
INPUT
VHT
VLT
VHT
VLT
VIHT
VILT
AC test inputs are driven at VIHT (2.4V) for a logic “1” and VILT (0.4 V) for a logic “0”. Measurement reference points for
inputs and outputs are VHT (2.0 V) and VLT (0.8 V). Input rise and fall times (10%
90%) are <10 ns.
Note: VHT - VHIGH Test
VLT - VLOW Test
VIHT - VINPUT HIGH Test
VILT - VINPUT LOW Test
301 ILL F13.1
TO TESTER
TO DUT
CL
RL LOW
RL HIGH
VDD
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