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参数资料
| 型号： | SSTUB32872AHMLF |
| 厂商： | IDT, Integrated Device Technology Inc |
| 文件页数： | 7/18页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC REGIST BUFF 28BIT DDR2 96-BGA |
| 标准包装： | 270 |
| 逻辑类型： | DDR2 的寄存缓冲器 |
| 电源电压： | 1.7 V ~ 1.9 V |
| 位数： | 28 |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 96-LFBGA |
| 供应商设备封装： | 96-CABGA（13.5x5.5） |
| 包装： | 托盘 |
15
1222F—3/13/07
ICSSSTUB32872A
Advance Information
3 Test circuits and switching waveforms (cont’d)
3.3 Error output load circuit and voltage measurement information (VDD =1.8 V± 0.1V)
All input pulses are supplied by generators having the following characteristics: PRR
10 MHz;
Zo = 50 ; input slew rate = 1 V/ns ± 20%, unless otherwise specified.
(1) CL includes probe and jig capacitance.
Figure 28 — Load circuit, error output measurements
—
CL = 10 pF
(see Note 1)
LOAD CIRCUIT – HIGH-TO-LOW SLEW-RATE MEASUREMENT
Test Point
DUT
Out
RL = 1K
VDD
LVCMOS
RST
Input
PLH
t
Output
Waveform 2
CC
V/2
0.15 V
CC
V
0 V
OH
V
0 V
Figure 29
Voltage waveforms, open-drain output low-to-high transition time with respect to reset input
Timing
Inputs
Output
Waveform 1
PHL
t
ICR
V
CC
V
/2
ICR
V
VI(PP)
CC
V
OL
V
Timing
Inputs
Output
Waveform 2
PHL
t
ICR
V
ICR
V
VI(PP)
OH
V
0
0.15 V
Voltage waveforms, open-drain output high-to-low transition time with respect to clock inputs
Figure 30
Voltage waveforms, open-drain output low-to-high transition time with respect to clock inputs
Figure 31
_ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _
Ω
相关PDF资料 |
PDF描述 |
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参数描述 |
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| SSTUB32S865AHLFT | 功能描述:IC REGIST BUFF 25BIT DDR2 160BGA RoHS:是 类别:集成电路 (IC) >> 逻辑 - 专用逻辑 系列:- 产品变化通告:Product Discontinuation 25/Apr/2012 标准包装:1,500 系列:74SSTV 逻辑类型:DDR 的寄存缓冲器 电源电压:2.3 V ~ 2.7 V 位数:14 工作温度:0°C ~ 70°C 安装类型:表面贴装 封装/外壳:48-TFSOP（0.240"，6.10mm 宽） 供应商设备封装:48-TSSOP 包装:带卷 (TR) |
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