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参数资料
| 型号： | ST72511R9T3/XXX |
| 厂商： | STMICROELECTRONICS |
| 元件分类： | 微控制器/微处理器 |
| 英文描述： | 8-BIT, MROM, 8 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP64 |
| 封装： | 14 X 14 MM, TQFP-64 |
| 文件页数： | 61/164页 |
| 文件大小： | 1043K |
| 代理商： | ST72511R9T3/XXX |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页当前第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页第115页第116页第117页第118页第119页第120页第121页第122页第123页第124页第125页第126页第127页第128页第129页第130页第131页第132页第133页第134页第135页第136页第137页第138页第139页第140页第141页第142页第143页第144页第145页第146页第147页第148页第149页第150页第151页第152页第153页第154页第155页第156页第157页第158页第159页第160页第161页第162页第163页第164页
ST72311R, ST72511R, ST72512R, ST72532R
153/164
ADC CHARACTERISTICS (Cont’d)
ADC Accuracy with VDD=5.0V
Figure 92. ADC Accuracy Characteristics
Notes:
1. Data based on characterization results over the whole temperature range, monitored in production.
2. ADC Accuracy vs. Negative Injection Current:
For IINJ-=0.8mA, the typical leakage induced inside the die is 1.6A and the effect on the ADC accuracy is a loss of 1 LSB
for each 10K
increase of the external analog source impedance. This effect on the ADC accuracy has been observed
under worst-case conditions for injection:
- negative injection
- injection to an Input with analog capability, adjacent to the enabled Analog Input
-at 5V VDD supply, and worst case temperature.
Symbol
Parameter
Conditions
Min
Max
Unit
|ET|
Total unadjusted error 2)
fCPU=8MHz, fADC=4MHz
1)
1.5
LSB
EO
Offset error 2)
-1
1
EG
Gain Error 2)
-0.5
0.5
|ED|
Differential linearity error 2)
1
|EL|
Integral linearity error 2)
1
EO
EG
1 LSBIDEAL
1LS B
IDE AL
V
DDA
V
SSA
–
256
----------------------------------------
-
=
Vin (LSBIDEAL)
(1) Example of an actual transfer curve
(2) The ideal transfer curve
(3) End point correlation line
ET=Total Unadjusted Error: maximum deviation
between the actual and the ideal transfer curves.
EO=Offset Error: deviation between the first actual
transition and the first ideal one.
EG=Gain Error: deviation between the last ideal
transition and the last actual one.
ED=Differential Linearity Error: maximum deviation
between actual steps and the ideal one.
EL=Integral Linearity Error: maximum deviation
between any actual transition and the end point
correlation line.
Digital Result ADCDR
255
254
253
5
4
3
2
1
0
7
6
12
34
567
253 254 255 256
(1)
(2)
ET
ED
EL
(3)
VDDA
VSSA
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