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参数资料
| 型号： | STM32F205RET6TR |
| 厂商： | STMICROELECTRONICS |
| 元件分类： | 微控制器/微处理器 |
| 英文描述： | 32-BIT, FLASH, 120 MHz, RISC MICROCONTROLLER, PQFP64 |
| 封装： | 10 X 10 MM, ROHS COMPLIANT, LQFP-64 |
| 文件页数： | 19/163页 |
| 文件大小： | 2275K |
| 代理商： | STM32F205RET6TR |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页当前第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页第115页第116页第117页第118页第119页第120页第121页第122页第123页第124页第125页第126页第127页第128页第129页第130页第131页第132页第133页第134页第135页第136页第137页第138页第139页第140页第141页第142页第143页第144页第145页第146页第147页第148页第149页第150页第151页第152页第153页第154页第155页第156页第157页第158页第159页第160页第161页第162页第163页
STM32F205xx, STM32F207xx
Electrical characteristics
Doc ID 15818 Rev 7
115/163
INL(3)
Integral non linearity
(difference between
measured value at Code i
and the value at Code i on a
line drawn between Code 0
and last Code 1023)
--
±1
LSB
Given for the DAC in 10-bit
configuration.
--
±4
LSB
Given for the DAC in 12-bit
configuration.
Offset(3)
Offset error
(difference between
measured value at Code
(0x800) and the ideal value =
VREF+/2)
--
±10
mV
Given for the DAC in 12-bit
configuration
--
±3
LSB
Given for the DAC in 10-bit at
VREF+ = 3.6 V
--
±12
LSB
Given for the DAC in 12-bit at
VREF+ = 3.6 V
Gain
Gain error
-
±0.5
%
Given for the DAC in 12-bit
configuration
Settling time (full scale: for a
10-bit input code transition
between the lowest and the
highest input codes when
DAC_OUT reaches final
value ±4LSB
-3
6
s
CLOAD ≤ 50 pF,
RLOAD ≥ 5 kΩ
THD(3)
Total Harmonic Distortion
Buffer ON
--
-
dB
CLOAD ≤ 50 pF,
RLOAD ≥ 5 kΩ
Update
Max frequency for a correct
DAC_OUT change when
small variation in the input
code (from code i to i+1LSB)
--
1
MS/s
CLOAD ≤ 50 pF,
RLOAD ≥ 5 kΩ
tWAKEUP
Wakeup time from off state
(Setting the ENx bit in the
DAC Control register)
-6.5
10
s
CLOAD ≤ 50 pF, RLOAD ≥ 5 kΩ
input code between lowest and
highest possible ones.
PSRR+ (2)
Power supply rejection ratio
(to VDDA) (static DC
measurement)
-
–67
–40
dB
No RLOAD, CLOAD = 50 pF
1.
If IRROFF is set to VDD, this value can be lowered to 1.65 V when the device operates in a reduced temperature range.
2.
Guaranteed by design, not tested in production.
3.
Guaranteed by characterization, not tested in production.
Table 63.
DAC characteristics (continued)
Symbol
Parameter
Min
Typ
Max
Unit
Comments
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PDF描述 |
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参数描述 |
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